N4155A 高速光谱损耗测量解决方案

N4155A 高速光谱损耗测量解决方案

N4155A 高速光谱损耗测量解决方案欧阳/曾S13510500080/13530634716

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深圳佳捷伦电子仪器有限公司

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是德N4155A高速光谱损耗测量解决方案能在研发和生产环境中迅速准确地提供波长相关光器件的特性描述。

将测试成本降至最低、把吞吐量增至最高

是德新型的N4155A高速光谱损耗测量解决方案，专用于光纤布拉格光栅（FBG）和薄膜滤光器（TFF）等波长相关设备以及基于此类设备的光器件的特性描述。它能快速优质完成光谱转移功能的测量：

TFF的光谱特性描述

校准与调整过程优化

FBG写入与光纤递减的过程监控

AWG阵列波长光栅芯片的光学性能，按通道逐个进行

是德N4155A解决方案能满足您的测试要求，具有无与伦比的优点：

速度实时扫描，不断更新光谱转移功能，从而实现快速校准和滤光器测试。

精确度新的可调谐激光光源具有卓越性能，使N4155A能达到+ /-1 pm的杰出绝对波长准确度。

能满足未来需求可以升级的N4155A解决方案以是德处于市场领先地位的光波测量系统为基础，能满足当前和未来的生产测试要求。

灵活性N4155A测试装置的模块，可与光波测量系统的所有构件灵活配置，从而扩展测试能力，满足测试需求。

设置快捷，使用简便是德光子基础程序库（PFL）提供一系列现成功能，可以快速简便地执行各种特定的测试、作业与分析任务。

备注：

我们的优势：

品种齐全，货源充足，存库雄厚，服务快捷，维修能力强。

欢迎来电!上门看货!价格好商量!您的满意是我们的追求！^_^

我公司对销售的仪器仪表均负责保修一年.

本公司长期供应/租赁/维修二手进口仪器

注：因价格限制问题，发布的价格不代表最终价格

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