车载芯片高低温测试解决方案
上海伯东美国 inTEST ThermoStream 高低温冲击热流仪, 为车载芯片提供稳定和高效的温度测试解决方案, 保证车规产品的高安全性, 高可靠性和高稳定性, inTEST 高度适配各类测试平台, 协助企业生产研发符合 AEC-Q100 可靠性认证的车载芯片.
inTEST ATS-710E 车载芯片高低温测试解决方案
由于车载电子产品基本覆盖汽车产品的全生命周期, 因此需要符合汽车功能安全标准, 而高低温冲击测试是其用于量产车上安全相关零部件的必要条件. 美国 inTEST 热流仪是一种用于车规级芯片高低温测试的设备. 它可以快速模拟汽车在使用过程中可能遇到的各种极端温度环境, 从而对芯片进行高温和低温测试.
上海伯东某客户是一家汽车动力系统研发商, 致力于为整车厂和动力系统供应商提供发动机及变速系统关键部件. 目前正在开发和研究洁净高效的未来车行技术, 尤其致力于车载电子系统解决方案, 不断提升电动汽车和混合动力汽车技术. 客户使用 inTEST ATS-710E 高低温冲击测试机, 为相关测试工作提供 -75°C 至 +225°C 快速温度冲击范围, 满足各类车规产品的高低温冲击要求.
ATS-710E-M
温度范围 °C: -75 至 + 225(50 HZ)
变温速率: -55至 +125°C 约 10 S 或更少
+125至 -55°C 约 10 S 或更少
输出气流量: 4 至 18 scfm
温度精度: ±1℃ 通过美国 NIST 校准温度
显示分辨率: ±0.1℃
温度传感器: T或K型热电偶
远程控制: IEEE 488 , RS232
inTEST ATS-710E 提供 Air Mode 和 DUT Mode 两种测试方式. 在实际测试中, 如果是单颗待测器件, 则将热电偶探头放置于器件周边, 越靠近器件越好, 此时, 设备输出的气体温度将使此热电偶处的温度达到设定值.
与传统高低温试验箱对比, 上海伯东 inTEST 热流仪主要优势:
1. 变温速率更快, 每秒可快速升温/降温 15 °C
2. 温控精度: ±1℃
3. 实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度
4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC (模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件
5. 对测试机平台 load board上 的 IC 进行温度循环 / 冲击; 传统高低温箱无法针对此类测试
6. 对整块集成电路板提供准确且快速的环境温度
上海伯东美国 inTEST ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 移动设计, 通过输出快速, 清洁干燥的冷热循环冲击气流, 为芯片温度测试提供快速准确的温度环境, 适合模拟芯片在各种温度测试和调节的应用, 广泛应用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等的循环试验 Thermal cycle, 高低温冲击测试 thermal shock, 满足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯东是美国 inTEST 中国总代理.
若您需要进一步了解 inTEST 热流仪详细信息或讨论,
请联络上海伯东: 叶女士 13918837267
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氦质谱检漏仪,过程质谱分析仪,残余气体分析仪,真空规,真空泵等
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