inTEST BT28 热流仪光模块高低温测试

hakutoSH 20250429

  • 温度测试解决方案
上海伯东美国 inTEST BT28 桌面型高低温冲击热流仪, 适用于对低温要求不高的非高功率芯片或者器件测试, 例如光模块, 光通讯研发, 存储芯片, MCU 芯片研发等, inTEST BT28 热流仪台式设计, 占地面积小, 满足场地有限的实验环境.

上海伯东美国 inTEST BT28 桌面型高低温冲击热流仪, 适用于对低温要求不高的非高功率芯片或者器件测试, 例如光模块, 光通讯研发, 存储芯片, MCU 芯片研发等, inTEST BT28 热流仪台式设计, 占地面积小, 满足场地有限的实验环境.

传感专家

inTEST BT28 为光模块高低温测试提供降本增效的解决方案

1. 样品准备：将待测光模块插装于生产测试板上

2. 温控设置：使用 inTEST BT 28 热流仪, 设置待测光模块的外壳温度为 0℃, 40℃ 和 70℃

3. 电压设置：设置待测光模块的不同工作电压

4. 测试执行：结合其他测试设备, 如接收灵敏度测试仪, 光功率计等, 获取光模块的各项性能指标

5. 数据分析：对测试结果进行分析, 确保光模块在不同温度和电压条件下的性能满足设计要求

传感专家

inTEST 热流仪利用创新的温度测试解决方案, 方便您直接在公司实验室及工作平台上进行光组件, 电路板模块等测试.节省空间的设计同时保证快速, 准确的温度控制, 同时最大限度地减少对环境的影响.

美国 inTEST ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 温度冲击范围 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防静电设计, 不需要 LN2 或 LCO2 冷却, 温度显示精度: ±1℃, 通过 NIST 校准. 通过 ISO 9001, CE, RoHS 认证. inTEST 热流仪提供适用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等温度测试, 满足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯东是美国 inTEST 中国总代理.

若您需要进一步了解 inTEST 热流仪详细信息或讨论,

请联络上海伯东: 叶女士 13918837267

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氦质谱检漏仪,过程质谱分析仪,残余气体分析仪,真空规,真空泵等

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