SPEA与共进微电子续签战略合作协议，深化传感器测试协同创新
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SPEA与共进微电子续签战略合作协议，深化传感器测试协同创新
近日，全球知名的自动化测试设备制造商SPEA与共进微电子（GJM）正式完成战略合作协议的续签。此次签约仪式在SPEA总部举行，由SPEA创始人Luciano Borania与共进微电子总经理张文燕共同签署。双方高层代表均出席仪式，标志着双方在传感器标定测试领域的合作进入新的发展阶段。
此次合作的延续，旨在进一步整合双方资源，推动传感器标定测试技术的优化升级，并加速相关产品的市场推广。凭借SPEA在自动化测试领域的领先技术和GJM在本土市场的深厚布局，双方有望在行业标准、测试精度及效率等方面实现突破。
三年深度合作，成果显著
自三年前建立战略伙伴关系以来，GJM与SPEA在多个维度实现了协同效应。SPEA通过提供先进的自动化测试设备及专业的标定测试技术，有力支撑了GJM在传感器测试领域的快速发展。同时，GJM作为SPEA在中国地区的指定经销商，也有效促进了SPEA设备在中国市场的渗透和应用。
双方在技术协同、市场拓展和供应链优化等方面积累了丰富经验，验证了跨地域、跨企业合作的高效模式。这一成功实践为此次续签奠定了坚实基础。
协议升级，拓展新兴技术赛道
根据新协议，未来双方的合作将从三个层面进一步深化：
- 一是深化传感器标定测试技术与自动化测试方案的联合研发，提升系统集成能力和测试效率；
- 二是拓展至硅光芯片、超表面结构光学器件、混合信号高速通信等新兴技术领域的联合开发，探索更广泛的测试应用场景；
- 三是GJM将延续其作为SPEA中国境内指定经销商的角色，并进一步扩大产品线，涵盖泛半导体测试设备，全面助力SPEA在中国市场的战略布局。
SPEA创始人Luciano Borania表示，此次续签不仅是对双方合作成果的认可，更是迈向更深层次协同的起点。他强调，未来SPEA将与GJM在技术和服务层面实现更紧密的融合，为客户提供更高附加值的测试解决方案。
共进微电子总经理张文燕则指出，此次续约体现了双方在互信基础上的持续投入。她表示，GJM将充分发挥在本土市场的资源与渠道优势，与SPEA共同推进技术创新、优化生产流程、降低整体成本，以更好地应对客户多样化、定制化的需求。
协同创新，共促行业发展
此次战略合作协议的续签，不仅巩固了双方在传感器测试领域的合作关系，也为其在半导体全产业链中的竞争力提升提供了有力支撑。展望未来，SPEA与GJM将延续协同创新的发展路径，开拓更广阔的市场空间，持续推动行业技术进步和产业升级。
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