测试测量厂商NI宣布与孤波、韦尔半导体达成合作
近日，全球领先的测试测量厂商NI（National Instruments）宣布与上海孤波科技有限公司（简称孤波）、上海韦尔半导体股份有限公司（简称韦尔半导体）达成合作。孤波借助NI开放的LabVIEW平台和模块化的PXI硬件，开发出满足韦尔半导体射频芯片产品的测试方案，帮助韦尔半导体建立从实验室验证到量产的标准化测试流程，加速产品上市时间。
2020年新基建的提出，加速了各领域的智能化升级，受应用端的驱动，芯片行业迎来了新的发展期。在此背景下，NI、孤波和韦尔半导体三方的合作对于推动半导体行业创新具有重要意义。韦尔半导体作为专注于半导体器件的设计和销售公司，面临着将产品迭代速度快，上市时间缩短的挑战。未来，三方将共同探索，携手打造高效的芯片测试模式，致力于优化测试流程、缩短测试时间、降低测试成本。
作为致力于开发标准的半导体自动化验证、测试软件平台的创新者，孤波将与NI共同推进测试测量标准化流程在各行各业行业的落地。上海孤波科技有限公司总经理周浩表示：“孤波打造基于LabVIEW和C#的易用的软件平台SIVA，结合NI的PXI和客户自有的第三方台式仪表，为客户打造跨产品线，跨office，甚至跨BU的测试统一服务，统一测试标准，从而提高测试效率，加速客户的产品开发和量产进程。”
上海韦尔半导体股份有限公司副总裁纪刚指出：“在NI的开放的PXI架构和孤波易用的SIVA软件的帮助下，韦尔半导体实现了多条产品线从实验室验证到量产的测试标准化和平台复用，极大地降低了测试成本，提升了测试效率，从而帮助我们加快产品的迭代速度，更好地应对快速的市场变化。”
芯片越来越复杂，而芯片从研发到量产的周期却越来越短，如何实现从实验室到量产整个环节的全面与快速验证，是工程师们面临的一个重大挑战。传统的测试方法无法应对现在的挑战，为满足日益复杂的测试需求，有效控制成本和测试时间，工程师需要现代化芯片测试（Modern Lab)方法，即基于标准化、高效的芯片实验室运营流程方法。
NI 亚太区销售总监陈健忠强调：“Modern Lab的概念由NI首次提出，NI致力于将Modern Lab的理念带入中国，帮助中国客户建立这套标准化的测试流程，在芯片测试过程中建立标准和可迁移的架构，帮助厂商实现在不同地区标准测试台的部署和协同运营，同时为未来新技术的研发提供充分的灵活性。”
测试贯穿于芯片产业链的每个环节，随着芯片产品多样性和复杂性的增长，基于现代化的测试方法打造测试系统非常必要。NI和孤波将发挥各自独特的优势，帮助韦尔半导体占领市场先机。
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