产品概述
武汉普赛斯仪表S系列S200仪表是一款专为压力传感器I-V特性测试设计的数字源表（SMU），适用于多种半导体材料的压力传感器测试。该设备能够实现高精度、高灵敏度的电阻测量，覆盖从Ω到GΩ的宽电阻测试范围，支持实时测试多种材料在同一压力条件下的电阻值反应灵敏度。
该仪表采用高性能数字源表架构，具备恒压源、恒流源、伏特计、安培计和欧姆表功能，可作为精密电子负载使用。其支持四象限工作模式，适用于I-V曲线扫描、R/t曲线显示及数据记录存档，广泛应用于工业自控环境中的压力传感器分选与特性分析。
核心特点/优势
- 支持Ω~GΩ宽电阻范围测试，满足多种材料测试需求
- 具备高灵敏度与高测试可靠性，减少外部误差来源
- 集成多种测试功能，实现“五合一”测试，提高测试效率
- 支持I-V曲线扫描与R/t曲线实时显示，便于数据分析与存档
- 采用数字源表架构，具备四象限工作能力，适用于复杂测试场景
应用领域
- 水利水电
- 铁路交通
- 智能建筑
- 生产自控
- 航空航天
- 军工
- 石化
- 油井电力
- 船舶
- 机床
- 管道
选型指南/使用建议
建议根据测试材料的电阻范围选择合适的测试配置，确保测试精度与稳定性。设备适用于常温常压环境，建议在洁净、无强电磁干扰的测试环境中使用。支持上位机连接，便于实时显示与数据记录。
技术参数
| 规格项 | 参数值 |
|---|---|
| 测试功能 | 电阻测量、I-V曲线扫描、R/t曲线显示 |
| 测试类型 | I-V特性测试 |
| 应用场景 | 压力传感器分选、材料特性分析 |
| 测试范围 | Ω~GΩ |
| 设备类型 | 数字源表（SMU） |
| 测试精度 | 高精度 |
| 适用材料 | 多种半导体材料 |
| 工作模式 | 四象限工作 |
| 测试效率 | 高测试速度、高测试可靠性 |
温馨提示
若上述内容存在差异，请以产品手册为准。
如需获取样品、技术支持或完整规格书，请点击联系销售。
声明：本产品内容及配图源自互联网收集或平台用户自行上传，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或证实其内容真实性，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如涉及作品内容、版权等问题，请联系本网处理，侵权内容将在一周内下架整改。
