Micron Instruments提供了一系列半导体背衬测量仪。，易于安装，安装在带有多功能焊盘的柔性绝缘电路上，使该设备易于安装。测量仪和金丝被涂上过多的涂层，以密封水分，并在应用过程中为测量仪提供额外的保护。，足够灵活，能够绕直径为0.5英寸的杆弯曲。，性能灵敏度是箔式测量仪的50到75倍。，称重传感器和箔桥上的线性和稳定性可用作线性校正器。0.125%FS的非线性可以校正到小于满量程的0.05%。长期稳定性不会受到影响。，建议使用原型来验证概念，并用于瞬态或高频测量。
技术参数
| 规格项 | 参数值 |
|---|---|
| 终端选择 | Solder Tabs |
| 产品类别 | Strain Gauges |
| 结构类型 | Semiconductor |
| 工作温度 | 278 F (137 C) |
| 标称电阻 | 120; 540; 15, 25, 30, 40, 230, 345 1050, 1125, 2000, 5000, 10000 |
| 应变系数 | 175 |
温馨提示
若上述内容存在差异，请以产品手册为准。
如需获取样品、技术支持或完整规格书，请点击联系销售。
声明：本产品内容及配图源自互联网收集或平台用户自行上传，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或证实其内容真实性，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如涉及作品内容、版权等问题，请联系本网处理，侵权内容将在一周内下架整改。
