产品概述
ZLDS150 纳米激光位移传感器是真尚有科技推出的非接触式位移测量设备，采用先进的激光三角测量技术，具有极高的测量精度和分辨率。该传感器适用于需要高精度、高稳定性和快速响应的工业测量场景，尤其在精密制造、光学检测和自动化控制领域表现卓越。
核心特点/优势
- 分辨率高达 7.6nm，线性度为 0.02%FS，确保测量结果的高精度和一致性。
- 支持漫反射和镜面反射两种测量模式，适应不同材料表面的测量需求。
- 内置自动增益电路，可根据被测物体表面特性自动调整激光功率，提升测量稳定性。
- 桥接功能可检测表面缝隙或不一致区域，避免数据丢失。
- 支持多达 150 个传感器的联网，适用于大规模测量系统。
- 40kHz 的采样频率，实现高速数据采集。
应用领域
- 精密制造中的微小位移测量
- 半导体和光学元件的表面检测
- 自动化生产线中的非接触式测量
- 表面缺陷和间隙检测
- 科研实验中的高精度位移监控
选型指南/使用建议
在使用 ZLDS150 传感器时，建议根据被测物体的表面特性选择合适的测量模式（漫反射或镜面反射）。在镜面反射模式下，需将激光器倾斜 22.5 度以获得最佳测量效果。传感器支持多设备联网，适用于需要大规模部署的工业场景。建议在稳定的环境条件下使用，以确保测量精度。
技术参数
| 规格项 | 参数值 |
|---|---|
| 最大量程 | 2mm |
| 桥接功能 | 支持 |
| 倾斜角度（镜面模式） | 22.5度 |
| 分辨率 | 7.6nm |
| 线性度 | 0.02%FS |
| 自动增益功能 | 支持 |
| 采样频率 | 40kHz |
| 工作模式 | 漫反射模式、镜面反射模式 |
| 最大联网数量 | 150个 |
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