Ultim极端硅漂移探测器是超高分辨率FEG-SEM应用的突破性解决方案，提供了超越传统的微纳米分析的解决方案。Ultim Extreme是一款100平方毫米的无窗Ultim版本，旨在最大限度地提高灵敏度和空间分辨率。它使用一个激进的几何优化成像和EDS性能在超高分辨率FEG表面活性剂，同时工作在低千伏和短工作距离。使用Ultim Extreme，EDS分辨率接近SEM。
技术参数
| 规格项 | 参数值 |
|---|---|
| 计算机接口 | Computer Interface |
| 产品类别 | Radiation Detectors |
| 探测器形式 | Fixed Installation |
| 检测到的电离辐射类型 | X-Ray |
