Ultim-Max-TEM，我们的SDD探测器，用于在TEM中进行纳米尺度分析和元素映射。使用一个新的低剖面80平方毫米的传感器可以在任何条件下更接近样本，提供更多的x射线计数。结合无窗结构和极端电子设备，该探测器可为200kV TEM提供高性能EDS。0.2-0.6 srad的立体角可将低能量X射线定量分析的灵敏度提高8倍，>400000 cps时，在样品温度>1000°C的条件下，在原位实验中收集光谱。
技术参数
| 规格项 | 参数值 |
|---|---|
| 检测到的电离辐射类型 | X-Ray |
| 计算机接口 | Computer Interface |
| 产品类别 | Radiation Detectors |
| 探测器形式 | Fixed Installation |
