用于TEM的X-MaxN系列SDD利用了新的传感器芯片、新的电子设备和创新的封装，以提供真正的‘下一代’SDD性能。X-MaxN TEM探测器采用最新的低噪声探测器设计，具有卓越的分辨率和灵敏度，即使在高计数率下也是如此。X-MaxN 80T的大面积80平方毫米传感器专为常规瞬变电磁应用而设计，具有极好的立体角和分析性能。设计用于最大限度地提高吞吐量和低能量灵敏度，在50000 cps条件下保证Mn规格。优化的起飞角度可获得最佳的峰本比和轻元素检测性能，在包括场发射、像差校正的显微镜计数率在内的所有等级的TEM上都能证明其性能，有助于获得X射线快速成像，包括使用Tru Map软件进行实时背景消除和峰值反褶积

技术参数