Xplore TEM，我们的SDD探测器专为120kV和200kV的日常应用设计一个新的80 mm2传感器和聚合物薄窗口和极端电子设备该探测器提供快速和准确的元素特征。0.1-0.4 s的立体角rad检测从Be到Cf元素的定量分析>200000 cps SATW窗口提供了无与伦比的易用性
技术参数
| 规格项 | 参数值 |
|---|---|
| 探测器形式 | Fixed Installation |
| 检测到的电离辐射类型 | X-Ray |
| 计算机接口 | Computer Interface |
| 产品类别 | Radiation Detectors |
温馨提示
若上述内容存在差异，请以产品手册为准。
如需获取样品、技术支持或完整规格书，请点击联系销售。
声明：本产品内容及配图源自互联网收集或平台用户自行上传，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或证实其内容真实性，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如涉及作品内容、版权等问题，请联系本网处理，侵权内容将在一周内下架整改。
