Xplore TEM，我们的SDD探测器专为120kV和200kV的日常应用设计一个新的80 mm2传感器和聚合物薄窗口和极端电子设备该探测器提供快速和准确的元素特征。0.1-0.4 s的立体角rad检测从Be到Cf元素的定量分析>200000 cps SATW窗口提供了无与伦比的易用性
技术参数
| 规格项 | 参数值 |
|---|---|
| 探测器形式 | Fixed Installation |
| 检测到的电离辐射类型 | X-Ray |
| 计算机接口 | Computer Interface |
| 产品类别 | Radiation Detectors |
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