产品概述
EVCD10 光谱共焦位移传感器是一种基于色散共焦原理的高精度光学传感器，利用白光沿光轴聚焦于不同距离，实现非接触式位移和厚度测量。该传感器具有超高精度（±0.02% F.S.）和分辨率（最高 2nm），适用于透明物体、镜面物体及高光亮金属的测量。其无源结构设计确保了长寿命和高可靠性，广泛应用于自动化检测和精密测量领域。
核心特点/优势
- 超高精度（±0.02% F.S.）和分辨率（最高 2nm）
- 最小光斑尺寸为 2μm，实现高空间分辨率测量
- 支持透明物体、镜面物体、高光亮金属的测量
- 可同时输出多层厚度及位移值，适用于复杂结构测量
- 支持三个增量式单端光电编码器信号，实现位置与测量数据的精确对应
- 配备超大角度测头 LHP4-Fc，角度特性 ±45°
- 提供丰富的通讯接口，包括以太网和 IO 触发信号
- 采用彩色光谱共焦技术，突破传统 LED 光源局限，全量程精度更高
- 光纤电缆最长可达 10 米，适用于多种安装环境
应用领域
- 自动化检测系统
- 精密位移测量
- 透明材料厚度测量
- 光学测量与质量控制
- 工业制造中的高精度检测
选型指南/使用建议
EVCD10 传感器适用于需要高精度、非接触测量的工业场景。建议搭配 DC 24V 3A 电源、以太网连接线和 IO 触发线使用。光纤长度可根据实际安装需求定制，最长可达 10 米。设备支持与三个增量式单端光电编码器信号连接，确保测量数据与位置数据的精确同步。适用于高温、高湿、强电磁干扰等复杂环境。
技术参数
| 规格项 | 参数值 |
|---|---|
| 电源适配器 | DC 24V 3A |
| 编码器接口 | 支持三个增量式单端光电编码器信号 |
| 分辨率 | 最高 2nm |
| 厚度测量能力 | 可同时输出多层厚度及位移值 |
| 数据输出接口 | 以太网接口 |
| 测头角度特性 | ±45° |
| 测量稳定性 | 超高稳定性 |
| 供电电压 | 24 V 直流 |
| 光斑尺寸 | 最小 2μm |
| 光纤长度 | 最长 10 米 |
| 通讯接口 | 以太网、IO触发 |
| 测量对象 | 透明物体、镜面物体、高光亮金属 |
| 测量精度 | ±0.02% F.S. |
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