产品概述
AE0X微米级光栅尺是英国真尚有科技推出的一款高精度位移检测设备，适用于测量和检查工程物体的位移、尺寸、跳动、表面轮廓和变形。该产品采用创新的绝对测量技术，具备0.1 µm的分辨率和最高±2 µm的测量精度，测量范围覆盖3至55 mm。
核心特点/优势
- 0.1 µm超高分辨率，满足精密测量需求
- 最高±2 µm测量精度，确保测量结果可靠
- 测量范围3至55 mm，适用于多种测量场景
- 支持绝对测量技术，无需归零操作
- 兼容增量编码器信号输出，便于系统集成
- 适用于低反射率、镜面、透明等复杂表面，测量对象无限制
应用领域
- 工程物体位移测量
- 尺寸检测
- 跳动检测
- 表面轮廓测量
- 变形检测
技术参数
| 规格项 | 参数值 |
|---|---|
| 测量精度 | ±2 µm |
| 测量范围 | 3 到 55 mm |
| 输出信号类型 | 增量编码器信号仿真 |
| 分辨率 | 0.1 µm |
| 测量方式 | 绝对测量 |
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