产品概述

EVCD10系列光谱共焦位移传感器是基于色散共聚焦原理的高精度测量设备，适用于透明、半透明物体的厚度测量以及高精度距离检测。该传感器通过高品质光学镜头在不同距离上聚焦白光，实现全可见光波段在焦点上的精准测量。控制器通过专用光纤与测量头连接，支持以太网数据输出，并可外接3路增量式单端光电编码器信号，实现位置数据与测量数据的同步。探头无源设计，无热源和移动部件，适用于高稳定性、高精度的工业测量场景。

核心特点/优势

• 超高精度（±0.02% F.S.）和分辨率（最高2nm）
• 光斑更小（最小2um），适用于微小结构测量
• 测量值无平均化处理，保证数据真实性和实时性
• 超高稳定性，适用于透明物体、镜面物体、高光亮金属等复杂表面
• 超强厚度测量能力，可同时输出多层厚度及位移值
• 具有超大角度测头LHP4-Fc，角度特性±45°
• 提供丰富的通讯接口，适用于自动化应用
• 创新彩色光谱共焦技术，突破常规LED光源亮度分布不均的局限，全量程精度更高，稳定性更强
• 可直接测量玻璃或半透明物体厚度

应用领域

• 透明物体测厚
• 半透明物体测厚
• 高精度距离检测
• 高精度厚度检测

选型指南/使用建议

建议配置DC 24V 3A电源、以太网连接线及IO触发线。使用时应确保环境稳定，避免强光干扰。适用于需要高精度、高稳定性的工业自动化测量场景。探头与控制器之间光缆最长可达10m，便于灵活布线。

技术参数