半导体电阻式传感器电性能IV测试高精密源表

品牌 Precise Instrument 普赛斯仪表

分类 仪表

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产品概述

数字源表是电学测试的必备仪器之一,是一种多用途仪器,特别适合现代半导体、纳米器件和材料、有机半导体、太阳能电池、印刷电子技术等领域。S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表,集电压、电流输入输出及测量等多种功能,最大输出电压达300V,最小测试电流达100pA,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中。

核心特点/优势

  • 支持四象限工作,适用于多种测试场景
  • 电压范围0.3mV~300V,电流范围100pA~1A,覆盖广泛
  • 支持多通道同步连续扫描,数据可导出为CSV格式
  • 采用高性能ADC芯片,分辨率可达16bits,最高支持2MS/s采样率
  • 输入阻抗高达1GΩ,适用于高阻值测试
  • 支持并联供电方式,适用于多通道气敏电阻测试

应用领域

  • 气敏电阻测试:通过I-V特性分析技术,验证传感器性能
  • 半导体器件测试:适用于新材料、新技术研发
  • 太阳能电池测试:支持IV曲线测试
  • 印刷电子技术测试:适用于柔性电子器件测试
  • 纳米材料与器件测试:适用于高精度电学特性分析

选型指南/使用建议

根据测试通道数量选择合适的配置方案:

  • N≤3路气敏电阻测试:推荐N台S100
  • 4≤N≤12路气敏电阻测试:推荐CS400子卡+1003C主机
  • 12≤N≤40路气敏电阻测试:推荐CS400子卡+1010C主机
  • 40路以上测试:使用上述主机组合配置

以8通道测试方案为例,可选择以下三种检测方案:

  • 方案一:8台S100台式源表同步测试
  • 方案二:1主机配2张4通道子卡:1003C+2*CS400
  • 方案三:CS1010+ A400采集卡 + S100/CS100+上位机软件,搭建多通道测试方案

技术参数

规格项参数值
通道数支持1~40通道
数据存储支持CSV格式导出
输入阻抗高达1GΩ
测试方法FIMV(加电流测电压)或FVMI(加电压测电流)
电压范围0.3mV~300V
供电方式并联供电
工作模式四象限工作
电流范围100pA~1A
采样率最高2MS/s
分辨率16bits
温馨提示

若上述内容存在差异,请以产品手册为准。

如需获取样品、技术支持或完整规格书,请点击联系销售。

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