IC芯片开短路测试数字源表

品牌 Precise Instrument 普赛斯仪表

分类 仪表

  • 产品详情
  • 附件下载

产品概述

普赛斯S300B源表是一款专为芯片电性能测试设计的高性能数字源表(SMU),支持恒压源、恒流源、电压表、电流表及电子负载等多种功能,具备四象限工作能力。该设备可实现FIMV(加电流测电压)和FVMI(加电压测电流)测试模式,适用于芯片的开短路测试、漏电流测试及DC参数测试。

核心特点/优势

  • 集成多种功能于单一设备,简化测试系统搭建,提升测试效率
  • 支持多通道并行测试,最高可扩展至40通道,满足规模化测试需求
  • 背板总线带宽高达3Gbps,支持16路触发总线,实现高速同步测试
  • 支持开短路测试、漏电流测试及DC参数测试,覆盖芯片测试核心需求
  • 具备高通道密度、强同步触发能力及多设备组合效率高的特点

应用领域

  • 芯片开短路测试(Open/Short Test)
  • 漏电流测试(Leakage Test)
  • DC参数测试(DC Parameters Test)
  • 多通道并行电性能测试
  • 芯片生产测试与老化测试

选型指南/使用建议

建议根据测试通道数量、测试速度及同步需求选择合适的插卡数量与主机配置。设备适用于实验室、生产线及自动化测试环境,需确保测试环境具备良好的接地与电磁屏蔽条件。建议搭配普赛斯CS系列多通道插卡式数字源表平台使用,以实现高效、精确的测试。

技术参数

规格项参数值
同步触发能力支持多通道同步触发
结构形式10插卡/3插卡结构
背板总线带宽3Gbps
触发总线数量16路
扩展能力支持多卡组合扩展
测试类型开短路测试、漏电流测试、DC参数测试
通道数最高40通道
支持功能恒压源、恒流源、电压表、电流表、电子负载
支持测试模式FIMV(加电流测电压)、FVMI(加电压测电流)
温馨提示

若上述内容存在差异,请以产品手册为准。

如需获取样品、技术支持或完整规格书,请点击联系销售。

声明:本产品内容及配图源自互联网收集或平台用户自行上传,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如涉及作品内容、版权等问题,请联系本网处理,侵权内容将在一周内下架整改。

分享
收藏
拨打电话
立即沟通

1.点击右上角

2.分享到“朋友圈”或“发送给好友”

×

微信扫一扫,分享到朋友圈

推荐使用浏览器内置分享功能

  • #{subject}
    #{size}
    下载