共进微电子提供针对CIS光学传感器晶圆测试服务。
可测性能参数除基本电性，漏电流，动静态电流等，可依照客户定制化模块实现摄像模组的CIS功能测试。
CIS光学传感器晶圆测试系统具备先进的技术指标：
l 支持8英寸、12英寸晶圆测试
l Class 10 洁净度测试腔体
l 128 数字通道
l 50MHz 矢量 / 8Mhz 深度
l 4*CPHY模式数据传输 速率2.5GH
l 24 位LVDS 接口
l 红、绿、蓝三色滤光镜
l 3200K/5600K光源 光照强度10000LUX
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