产品概述

普赛斯S300B型数字源表是专为半导体和集成电路工艺中材料、晶圆、芯片测试设计的高精度测试设备。该源表集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体，支持四象限工作，具备微弱电流10pA输出测量能力，适用于晶圆/芯片的VI特性测试。通过源表输出电流或电压信号，经电缆和探针传输至被测器件（DUT），采集其响应信号，从而完成电性能表征。

核心特点/优势

• 支持四象限工作，源及测量范围高至300V，低至3pA
• 源及测量准确度达0.03%，优于传统S系列源表
• 支持多种扫描模式，包括线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描
• 具备32000 S/s的高采样速率，适用于高速测试需求
• 内置功能软件，支持LIV、PIV等测试，提升测试效率
• 支持USB存储，一键导出测试报告
• 支持多种通信方式，包括RS-232、GPIB及以太网

应用领域

• 分立器件特性测试：电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件
• 能量与效率特性测试：LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器
• 传感器特性测试：电阻率、霍尔效应等
• 有机材料特性测试：电子墨水、印刷电子技术等
• 纳米材料特性测试：石墨烯、纳米线等
• 激光器特性测试：窄脉冲LIV测试系统
• 功率器件：静态测试系统
• 电流传感器：动静态参数测试系统

选型指南/使用建议

建议根据测试对象的电压和电流范围选择合适的量程配置。设备支持前后面板输出接口，使用时需注意同一时刻只能使用一个接口。工作环境应保持在25±10℃范围内，避免高温或潮湿环境。设备支持多种通信方式，建议根据实验室或产线的自动化需求选择合适的接口配置。测试报告可通过USB一键导出，便于数据管理和分析。

技术参数