1.1 半导体分立器件测试系统SC2010概述
半导体分立器件测试系统SC2010是一款非常具有代表性的新型半导体晶体管参数测试图示系统，是美国STI5000系列测试机的国产替代机型，本系统可自动生成功率器件的 I-V 曲线，也可根据客户的实际需求设置功能测试，直接读取数显结果。系统在失效分析， IQC 来料检验及高校实验室等部门有广泛的应 用。系统生成的曲线都使用ATE 系统逐点建立，保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是 6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来，数据捕获的曲线可导入 EXCEL 等格式进一步分析研究，是一款高效多功能的高端半导体测试设备。
本系统使用方便，只需要通过 USB 或者 RS232 与电脑连接，通过电脑中友好的人机界面操作，即可完成测试。并 可以实现测试数据以 EXCEL 和 WORD 的格式保存。系统提供过电保护功能，门极过电保护适配器提供了广泛的诊断测 试。这些自我测试诊断被编成测试代码,以提供自我测试夹具,在任何时间都可以检测。对诊断设备状态和测试结果提供了可靠地保证。
1.2 半导体分立器件测试系统SC2010指标
测 试 电 压： 0-2KV
测 试 电 流： 0-100A
电压分辨率： 1mV
电流分辨率： 0.1nA
测 试 精 度： 0.2%+2LSB
测 试 速 度： 约0.5ms/参数
测 试 种 类： 17大类26分类的分立器件
测 试 参 数： 90%以上静态参数
曲 线 功 能： 非常丰富,并支持曲线集合
测 试 方 式： 程控脉冲式
脉 冲 宽 度： 300us至5ms
数 据 存 储： 原始数据自动存储
规 格 尺 寸： 570*450*280mm
1.3 半导体分立器件测试系统SC2010测试范围 / 参数项目
SC2010测试系统是专为测试半导体分立器件而研发设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力，能够真实 准确测试以下类型的半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列：
| 序号 | 测试器件类别 | 测试参数列表 |
| 1 | 二极管 DIODE | IR；BVR ；VF |
| 2 | 晶体管（NPN 型/PNP 型） | ICBO ； ICEO ； ICER ； ICES ； ICEV ； IEBO ；BVCEO ；BVCBO ；BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF |
| 3 | J 型场效应管 J-FET | IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；IDSS；GFS；VGSOFF |
| 4 | MOS 场效应管 MOS-FET | IDSS ；IDSV；IGSSF； IGSSR ；VGSF ；VGSR ；BVDSS ；VGSTH ；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS |
| 5 | 双向可控硅 TRIAC | VD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH- |
| 6 | 可控硅 SCR | IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；IGT；VGT；IL；IH |
| 7 | 绝缘栅双极大功率晶体管 IGBT | ICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；VGEON；VF；GFS |
| 8 | 硅触发可控硅 STS | IH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ； VPK-；VGSW+；VGSW- |
| 9 | 达林顿阵列 DARLINTON | ICBO ； ICEO ； ICER ； ICES ； ICEX ； IEBO ； BVCEO ； BVCER ； BVCEE ；BVCES ；BVCBO；BVEBO；hFE ；VCESAT； VBESAT；VBEON |
| 10 | 光电耦合 OPTO-COUPLER | ICOFF 、 ICBO ； IR ； BVCEO ； BVECO ； BVCBO ； BVEBO ； ； CTR ； HFE ；VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode) |
| 11 | 继电器 RELAY | RCOIL；VOPER；VREL；RCONT；OPTIME； RELTIME |
| 12 | 稳压、齐纳二极管 ZENER | IR；BVZ；VF；ZZ |
| 13 | 三端稳压器 REGULATOR | Vout；Iin； |
| 14 | 光电开关 OPTO-SWITCH | ICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF |
| 15 | 光电逻辑 OPTO-LOGIC | IR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF |
| 16 | 金属氧化物压变电阻 MOV | ID+ ID-；VN+； VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ； |
| 17 | 固态过压保护器 SSOVP | ID+ ID- ；VCLAMP+, VCLAMP- ；VT+ 、VT- ； IH+ 、 IH- ； ； IBO+ IBO-；VBO+ VBO-；VZ+ VZ- |
| 18 | 压变电阻 VARISTOR | ID+； ID-；VC+ ；VC- |
| 19 | 双向触发二极管 DIAC | VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-, |
1.4 半导体分立器件测试系统SC2010曲线列表及实测列举
1.5 半导体分立器件测试系统SC2010应用场景
>测试分析(功率器件研发设计阶段的初始测试)
>失效分析(对失效器件进行测试，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案)
>选型配对(在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对)
>来料检验(研究所及电子厂的质量部(IQC)对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率)
>量产测试(可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试)
技术参数
| 规格项 | 参数值 |
|---|---|
| 主极电压 | 2000V |
| 主极电流 | 100A |
