Optris(欧普士)是德国专业从事非接触式红外测温技术研发与应用的高科技企业,成立于2004年,产品覆盖-50℃至3500℃的测温需求,广泛应用于工业、科研等领域。
企业定位:全球非接触测温领域技术领导者,隶属于传感器巨头Micro-Epsilon集团。
核心技术:拥有20年红外测温工程经验,产品设计兼顾高精度与性价比。
分支机构:在中国深圳设立合资公司,负责亚太区研发、生产及销售。
产品体系
核心产品类别。
便携式红外测温仪(如Optris MiniSight)。
在线式测温系统。
黑体标准源与校准设备。
红外热像仪及扫描热像仪。
Optris Xi 410 是一款以太网红外热像仪,专为工业环境中的精确非接触热成像设计。它具有电动对焦功能、宽温度范围,并兼容工业通信系统。支持 PoE 供电,简化了安装过程,即使在距离较远的情况下也能轻松安装。得益于自主独立模式,Xi 410 为固定安装红外成像树立了新的标准。通过访问先进的软件功能和配件,使其成为质量控制、状态监测和研究活动的理想选择。
工业红外成像仪,具有 384 x 240 像素,用于精确测量 –20 °C 到 1500 °C 的温度
尺寸小且坚固,配备电动对焦
独立自主运行,直接通信输出——非常适合连续监测
型号 Xi 410 LT 18°x12° Xi 410 LT 29°x18° Xi 410 LT 53°x31° Xi 410 LT 80°x44°
探测器
光学分辨率 382×240 像素
像素间距 17 µm
探测器 非制冷红外探测器
光谱范围 低温测量: 8 – 14 µm
光学滤镜 无
帧率 以太网:25 Hz
USB:4 Hz
自主模式:1.5 Hz
光学
视场角 18°x12° 29°x18° 53°x31° 80°x44°
焦距 [毫米] 20 13 8 6
F值 1.1 0.9 0.9 0.9
光学分辨率 384:1 238:1 128:1 78:1
到目标的最小距离 350 mm 350 mm 250 mm 200 mm
可更换光学器件 否
测量
物体测量范围 –20 °C … 100 °C, 0 °C … 250 °C, (20) 150 °C … 900 °C*1),
200 °C … 1500 °C (可选)
精度 ±2 °C 或 ±2 %,取较大者
热灵敏度 (NETD) 60mK
最小可检测点大小 IFOV: 1像素 0.3mm 0.5mm 0.7mm 0.8mm
最小可测量点大小 MFOV 0.9mm 1.5mm 2.1mm 2.4mm
MFOV测量视场 3×3 像素
预热时间 10 分钟
发射率/透过率/反射率 可调:0.100…1.100
接口
接口 USB 2.0
以太网 (100 Mbit/s)
支持的协议 USB,以太网(静态),RS485,串行通信
可选:EthernetIP, ProfiNet, Modbus TCP
兼容软件 PIXConnect, EasyComm, ConnectSDK, EasyAPI, DirectSDK
模拟输入/输出
直接输出/输入 1x 模拟输出 (0/4-20 mA)
1x 输入(模拟或数字);光隔离
可选工业过程接口 (PIF) 3x 模拟输出 (0/4–20 mA 或 0–10 V) 或报警输出(继电器)/
3x 输入(模拟或数字)/ 故障安全(LED 和继电器);
可堆叠最多 3 个 PIF;光隔离
电缆长度 以太网 / RS485:20 m(可扩展至 100 m)
USB:1 m(标准),3 m,5 m
图像处理
配置 通过 PIXConnect
操作 独立自主和/或计算机支持
功能 区域的自主温度评估,线扫描仪,事件捕捉器,
合并,报警,比较功能
常规
尺寸 Ø 36 mm x 100 mm,螺纹:M30x1
外壳材料 不锈钢
重量 216 – 220 克,取决于镜头(不包括安装支架)
三脚架 1/4-20 UNC
对焦 电动
原产国 德国
环境与认证
工作温度范围 0…50°C
存储温度范围 -40…70 °C
相对湿度 10 – 95 %,无凝结
防护等级 IP67, NEMA-4
电磁兼容性 (EMC) 2014/30/EU
抗冲击性 IEC 60068-2-27(25 G 和 50 G)
抗振动性 IEC 60068-2-6(正弦波)
IEC 60068-2-64(宽带噪声)
标准 CE, UKCA, RoHS
电源
电源 USB 或以太网供电或 5-30 VDC
功耗 最大 2.5 W
零件编号 OPTXI41LTF20T090 OPTXI41LTF13T090 OPTXI41LTF08T090 OPTXI41LTF06T090
附加备注 1) 准确性声明从150°C开始生效
2) 如果选择此选项,则(20)150 … 900 °C范围不可用
3) 噪声等效温差(NETD)测量依据VDI 5585,方法B,
黑体温度为25°C(77°F),温度测量范围为-20…100°C,
帧率为20Hz
技术参数
规格项 | 参数值 |
---|---|
光学分辨率 | 382×240 像素 |
像素间距 | 17 µm |
探测器 | 非制冷红外探测器 |