Optris(欧普士)是德国专业从事非接触式红外测温技术研发与应用的高科技企业,成立于2004年,产品覆盖-50℃至3500℃的测温需求,广泛应用于工业、科研等领域。
企业定位:全球非接触测温领域技术领导者,隶属于传感器巨头Micro-Epsilon集团。
核心技术:拥有20年红外测温工程经验,产品设计兼顾高精度与性价比。
分支机构:在中国深圳设立合资公司,负责亚太区研发、生产及销售。
产品体系
核心产品类别。
便携式红外测温仪(如Optris MiniSight)。
在线式测温系统。
黑体标准源与校准设备。
红外热像仪及扫描热像仪。
热成像仪Optris PI 08M,其光谱范围约为800 nm,专为减少NIR和CO2激光加工应用中的测量误差而设计。具有575°C至1900°C的连续测量范围,这款紧凑型红外热像仪非常适合这些特定的增材制造应用。在0.8微米的短波测量波长下,其发射率明显高于传统红外长波测量范围内的测量。在热过程的可视化的同时,快速的传感器电子设备允许反应时间缩短至1毫秒。通过提供USB和模拟及数字过程接口,它能够无缝集成到控制系统和制造过程中。
高动态CMOS探测器,分辨率高达764 x 480像素
光谱灵敏度约为0.8 µm - 非常适用于NIR和CO2激光加工应用
宽测量范围从575°C到1900°C
高达1 kHz的帧率,适用于快速过程
模拟和数字输出,响应时间为1毫秒
具有线扫描功能
型号 PI08M 27°x17° PI08M 41°x25°
探测器
光学分辨率 全分辨率:764 x 480 像素
子帧模式:382 x 288 像素
快速子帧模式:72 x 56 像素 *1)
线扫描:764 x 8 像素 *1)
像素间距 15 µm
探测器 CMOS
光谱范围 780 – 820 nm
光学滤镜 无
帧率 全分辨率:32 Hz
子帧模式:80 Hz(可切换至 27 Hz)
快速子帧模式:1 kHz *1)
线扫描:1 kHz *1)
光学
视场角 27°x17° 41°x25°
焦距 [毫米] 25 16
F值 1.8 2
光学分辨率 561:1 353:1
到目标的最小距离 300 mm 300 mm
可更换光学器件 可以
测量
物体测量范围 子帧模式:575°C 至 1900°C
全分辨率:625°C 至 1900°C
快速子帧模式和线扫描:750°C 至 1900°C
精度 读数的 ±1 % (小于1500 °C)/ 读数的 ±2 % (大于1500 °C)*3)
热灵敏度 (NETD) < 2 K (1000 °C)
<4 K (>1000 °C)
最小可检测点大小 IFOV: 1像素 0.1mm 0.1mm
最小可测量点大小 MFOV 0.4mm 0.4mm
MFOV测量视场 4×4像素
预热时间 10分钟
发射率/透过率/反射率 可调:0.100…1.100
接口
接口 USB
可选:USB GigE(PoE)接口
支持的协议
USB 2.0
兼容软件 PIXConnect, ConnectSDK, EasyAPI, ExpertAPI
模拟输入/输出
直接输出/输入 1x 模拟输出 (0/4-20 mA)
1x 输入(模拟或数字);光隔离
可选工业过程接口 (PIF) 2个0-10 V输入,数字输入(最大24 V),
3个0/4-20 mA输出,3个继电器(0-30 V/400 mA),
故障安全继电器
电缆长度 USB: 1 米 (3.3 英尺) (标准), 3 米 (9.8 英尺), 5 米 (16.4 英尺),
10 米 (32.8 英尺), 20 米 (65.6 英尺)
图像处理
配置 通过 PIXConnect
操作 计算机支持
功能 测量高温金属表面和熔融金属,可测量感兴趣区域,具有线扫描、事件捕获、合并、报警、比较功能、
温度-时间图、温度分布、记录与播放、触发等功能。
常规
尺寸 46 x 56 x 88 – 129 mm(取决于镜头和焦点位置)
外壳材料 铝制外壳
重量 245 – 311 g,(取决于镜头)
三脚架 1/4-20 UNC
对焦 手动
原产国 德国
环境与认证
工作温度范围 5…50°C
存储温度范围 -40…70 °C
相对湿度 20 – 80 %,无凝结
防护等级 IP67, NEMA-4
电磁兼容性 (EMC) 2014/30/EU
抗冲击性 IEC 60068-2-27 (25 G and 50 G)
抗振动性 IEC 60068-2-6(正弦波)
IEC 60068-2-64(宽带噪声)
标准 CE, UKCA, RoHS
电源
电源 USB
功耗 最大 2.5 W
零件编号 OPTPI08MOF25T1900 OPTPI08MOF16T1900
附加备注 1) 子帧可以放置在完整视场 (FOV) 的任意位置
2) 对于 1 kHz 模式:读数的 ±1.5%(<2000°C)/ 读数的 ±2.5%(>2000°C)
技术参数
规格项 | 参数值 |
---|---|
像素间距 | 15 µm |
探测器 | CMOS |
光谱范围 | 780 – 820 nm |