产品概述
惠普HP 4291A 是一款高性能的射频阻抗/材料分析仪，广泛应用于电子元器件和材料的阻抗特性测量。该仪器能够测量和监测交流系统中的电流阻力，适用于测试电容器、电感器和电阻器等元件。其内置的高精度发生器支持从1 MHz到1.8 GHz的频率扫描，分辨率达1 mHz，具备多种测量和分析功能。
核心特点/优势
- 基本精度高达±0.8%，确保测量结果的可靠性
- 支持频率范围1 MHz至1.8 GHz，分辨率达1 mHz
- 提供2通道独立参数选择，增强测量灵活性
- 支持多种测量参数，包括|Z|、|Y|、相位、R、X、G、B、Cp、Cs、Lp、Ls、Rp、Rs、D、Q
- 具备增益相位测量和阻抗测量功能
- 支持直接读取介电常数和磁导率
- 提供多种分析模式，如温度分析、科尔-科尔图、弛豫时间分析
应用领域
- 适用于电容器、电感器和电阻器等电子元件的阻抗测试
- 用于材料的介电常数和磁导率测量
- 支持多种扫描参数，如频率、交流电平、直流偏置和温度
- 适用于科研、生产测试和质量控制等场景
选型指南/使用建议
建议在需要高精度阻抗测量和材料分析的场景下选用HP 4291A。使用时需注意直流偏置范围为±35 V，确保测试环境符合仪器要求。仪器支持GPIB接口，便于集成到自动化测试系统中。
技术参数
| 规格项 | 参数值 |
|---|---|
| 直流偏置范围 | ±35 V |
| 频率分辨率 | 1 mHz |
| 频率范围 | 1 MHz 至 1.8 GHz |
| 分析功能 | 温度分析、科尔-科尔图、弛豫时间分析 |
| 基本精度 | ±0.8% |
| 扫描参数 | 频率、交流电平、直流偏置、温度 |
| 测量功能 | 增益相位测量、阻抗测量、介电常数、磁导率直接读出 |
| 测量参数 | 包括 |Z|、|Y|、相位、R、X、G、B、Cp、Cs、Lp、Ls、Rp、Rs、D、Q |
温馨提示
若上述内容存在差异，请以产品手册为准。
如需获取样品、技术支持或完整规格书，请点击联系销售。
声明：本产品内容及配图源自互联网收集或平台用户自行上传，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或证实其内容真实性，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如涉及作品内容、版权等问题，请联系本网处理，侵权内容将在一周内下架整改。
