产品概述

SC2020晶体管参数测试系统是一款用于半导体分立器件电学参数测试的专用设备，适用于半导体器件生产厂家的圆片中测或封装成测，各类整机厂家、科研院所的质量检测部门IQC进行来料检验，研发部门进行失效分析、选型配对、可靠性分析测试。系统采用台式结构，由测试主机和程控电脑组成，支持多种夹具和适配器扩展，可连接Prober和Handler接口实现自动化测试。

核心特点/优势

• 采用32位ARM&MCU设计，系统稳定高效
• 支持7大类26分类电子元器件测试
• 程控高压源最高可达2000V，程控高流源最高可达500A
• 漏电流分辨率高达1.5pA，测试精度高
• 支持四线开尔文连接，确保测量准确性
• 支持Prober和Handler接口，实现自动化测试
• 测试结果可导出为Excel格式，支持打印输出
• 符合GJB128等相关标准

应用领域

• 测试分析：功率器件研发设计阶段的初始测试
• 失效分析：对失效器件进行测试，查找失效机理
• 选型配对：在器件焊接至电路板前进行测试和分类配对
• 来料检验：研究所及电子厂的质量部对入厂器件进行抽检/全检
• 量产测试：连接机械手、扫码枪、分选机等设备，实现规模化、自动化测试

选型指南/使用建议

建议根据测试器件类型选择合适的测试适配器和夹具。系统支持多种选配模块，如高压源2000V、高流源100A/200A/500A、结电容测试等。测试环境应保持稳定，避免电磁干扰。系统支持与分选机、机械手等设备连接，实现自动化测试流程。

技术参数