产品概述
中昊芯测 SC2520 是一款专为半导体器件参数测试需求设计的高精度测试仪器。该设备适用于多种半导体器件的性能测试，包括电流、电压、压降、漏电流、耐压等关键参数的测量，广泛应用于半导体封测领域。
核心特点/优势
- 支持多档位电流测量，覆盖范围广，从 0~200A，分辨率高至 0.01mA
- 具备脉冲电流测试功能，脉冲宽度为 500us，适用于大电流瞬态测试
- 支持正向压降测量，范围覆盖 0~10V 和 0~60V，满足不同器件测试需求
- 具备栅极漏电流测试功能，支持多档位漏电流测量，精度高
- 耐压测试范围高达 2500Vdc，支持多档位漏电流检测
- 漏电分辨率可达 100pA，具备一键 zero 校零技术，确保测量精度
- 支持手动按钮触发和脚踏触发，操作灵活
- 配备隔离的 RS-485 通讯端口，支持软件升级
应用领域
- 半导体器件的参数测试与性能评估
- 功率器件、MOSFET、IGBT 等器件的漏电流、压降、耐压测试
- 半导体封测生产线中的质量检测与筛选
选型指南/使用建议
建议根据待测器件的电流、电压范围选择合适的测试档位，确保测试精度。测试过程中需注意电源开关的双重控制，确保设备安全。设备支持软件升级，建议定期更新以获取最新功能。测试环境应保持稳定，避免电磁干扰。设备可搭配测试盒与测试座使用，也可根据需要使用开尔文测试夹。
技术参数
| 规格项 | 参数值 |
|---|---|
| 漏电分辨率 | 100pA |
| 脉冲宽度 | 500us |
| 栅极输出电压 | ±30V |
| 正向压降测量范围 | 0~10V(100-200A), 0~60V(≤100A) |
| 耐压电压 | 0~2500Vdc |
| 耐压电流 | 0~2μA, 0~20μA, 0~200μA, 0~2000μA |
| 开路输出电压 | ≥60V |
| 栅极漏电流测试范围 | 600nA, ±6μA, ±60μA, ±600μA, ±6mA, ±60mA, ±600mA |
| 电流分辨率 | 0.01mA, 0.1mA, 1mA, 10mA |
| 脉冲电流档位 | 四档 |
| 供电电压 | 220VAC |
| 电流档位范围 | 0~100mA, 100~1000mA, 1~10A, 10~200A |
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