产品概述
众志检测仪器CZ-UHA系列高低温湿热交变试验箱是一款专为存储芯片可靠性测试设计的高精度环境模拟设备。该设备具备-70℃～+150℃宽温域和20%～98%RH湿度范围的精准控制能力，适用于存储芯片在高温高湿、恒定湿热、交变湿热等复杂环境下的长期可靠性评估。设备广泛应用于NAND Flash、DRAM、eMMC、UFS等存储芯片及模组的JEDEC、AEC-Q100等国际标准测试。
核心特点/优势
- 实现-70℃～+150℃宽温域覆盖，湿度范围20%～98%RH，温湿度解析精度分别达0.01℃和0.1%RH
- 采用BTHC平衡调温调湿控制系统，结合自适应PID+前馈耦合算法，温湿度控制更稳定、节能
- 配备法国泰康或德国比泽尔压缩机，采用环保冷媒，节能40%以上
- 搭载7英寸真彩触摸屏控制器，支持中英文界面，具备120组程序编程能力
- 支持远程监控、数据导出、断电记忆恢复及预约开机功能
- 具备φ50mm测试孔、观察窗、PL荧光灯、外接供水系统等便捷操作设计
- 配备多重安全保护装置，出厂前经过327项检测，附带CNAS计量证书
应用领域
- 存储芯片稳态温湿度偏置寿命测试（THB）
- 存储芯片恒定湿热测试
- 存储芯片交变湿热测试
- 车规级存储芯片AEC-Q100认证测试
- 封装吸湿分层与爆米花效应验证
- SSD固态硬盘、存储控制器等产品的温湿度可靠性测试
选型指南/使用建议
设备提供CZ-UHA-80/150/225/408/608/1000（D～G）等多种型号，内箱尺寸从80L至1000L不等，可根据测试样品数量和尺寸进行选型。建议使用纯水或去离子水作为加湿水源，避免结垢。设备应安装在通风良好、无腐蚀性气体的环境中，四周预留散热空间。样品摆放需均匀，避免堆叠影响温湿度均匀性。设备支持远程监控和数据导出，适用于实验室无人值守运行。
技术参数
| 规格项 | 参数值 |
|---|---|
| 温度均匀度 | ≤±1.0℃ |
| 降温时间 | 约1.0℃/分钟（快速温变机型每分钟下降2℃～15℃） |
| 温度解析精度 | 0.01℃ |
| 标准符合性 | GB/T、IEC、JESD、MIL-STD、AEC-Q100 |
| 电源 | 1Φ220VAC±10% 50/60Hz & 3Φ380VAC±10% 50/60Hz |
| 程序容量 | 120组程序，每组1～100段，共计1200段 |
| 湿度均匀度 | ≤±3.0%R.H |
| 节能效果 | 综合节能40%以上 |
| 冷媒类型 | R23、R404a |
| 压缩机品牌 | 法国泰康/德国比泽尔 |
| 温度波动度 | ≤±0.5℃ |
| 湿度解析精度 | 0.1%R.H |
| 通讯接口 | RJ-45、RS-485、USB |
| 湿度范围 | 20%～98%R.H（5%～98%R.H为特殊选用条件） |
| 升温时间 | 约3.0℃/分钟 |
| 控制器 | 7英寸真彩触摸屏，支持中英文双语界面 |
| 湿度波动度 | ≤±2.0%R.H |
| Operating Temperature | -70℃～+150℃（D型：-40℃；G型：-70℃） |
| 内箱尺寸 | W400~1000 × H500~1000 × D400~1000（依型号而异） |
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