产品概述
ZW-S5010 0.3M 是欧姆龙 ZW-5000 系列光学三角测量位移传感器的高精度型号。该传感器采用光学三角测量原理,通过发射光束并接收反射光来非接触式地测量物体的位移或厚度。其测量中心距离为 10 mm,测量范围为 ±0.5 mm,具备 0.25 μm 的静态分辨率,适用于对微小位移变化要求极高的精密工业场景。配合 ZW-5000T 传感器控制器使用,可通过 EtherCAT 总线实现高速、高精度的数据通信和控制。
核心特点/优势
- 超高精度与分辨率:具备 0.25 μm 的静态分辨率和 ±0.45 μm 的线性度,确保测量数据的极高准确性。
- 微小光斑检测:9 μm 的光斑直径使其能够精确测量微小特征或狭窄区域的位移,减少边缘效应干扰。
- 高速响应:测量周期可在 80 μs 至 1,600 μs 之间灵活设置,满足高速自动化生产线的实时监测需求。
- 强大的通信能力:支持 EtherCAT 协议,实现纳秒级的同步通信,便于集成到复杂的自动化控制系统中。
- 环境适应性强:具备 IP40 防护等级,能在最高 30,000 Lx 的环境光下稳定工作,适应多种工业现场环境。
应用领域
- 半导体制造中的晶圆位置检测
- 电子元件(如芯片、连接器)的精密尺寸测量
- 玻璃、金属薄片的厚度测量
- 自动化装配线上的零件到位检测
- 表面粗糙度及轮廓分析
选型指南/使用建议
配置建议:本产品为传感器头,需搭配 ZW-5000T 传感器控制器使用。控制器支持 24 VDC 供电,并提供 NPN/PNP 输出及 EtherCAT 通信接口。若需延长连接距离,可选配 ZW-XF50 系列延长光纤电缆(注意固件版本要求)。
安装注意事项:安装时请确保传感器头与被测物体之间的距离保持在测量中心距离(10 mm)附近,并严格控制在 ±0.5 mm 的测量范围内。避免在强振动或强电磁干扰环境中直接安装,必要时采取减震措施。
环境要求:工作温度范围为 0 至 50°C,存储温度为 -15 至 +60°C。请避免在结露或冻结的环境下使用。光纤最小弯曲半径为 20 mm,安装时请勿过度弯折光纤。
技术参数
| 规格项 | 参数值 |
|---|---|
| 测量范围 | ±0.5 mm |
| 静态分辨率 | 0.25 μm |
| 光纤长度 | 0.3 m |
| 测量周期 | 80 μs 至 1,600 μs |
| 环境温度 | 0 至 50°C |
| 输出类型 | NPN/PNP |
| 通信接口 | EtherCAT |
| 传感器类型 | 方形直插式 |
| 供电电压 | 24 VDC |
| 测量中心距离 | 10 mm |
| 线性度 | ±0.45 μm |
| 防护等级 | IP40 |
| 光斑直径 | 9 μm |
| 型号 | ZW-S5010 0.3M |
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