1000W 样机验证产品矩阵具备规模,形成市场占有规模20252025年 完善动态老化机台全系列：SiC/存储，覆盖SOC、Flash、ARM、FPGA、DSP、XPU等更多测试需求；完善PXI板卡产品系列：SMU 线纠错强大的数据分析能力，为生成测试报告提供便捷测试系统平台为客户提供业内极具竞争力的高频高速测试方案已为国内多家客户部署相关测试系统，稳定量产出货完美的端到端Turnkey服务能力PXI板卡序列电源测量卡 —— DPS10004通道源测量板卡±6V@500mA支持FVMI，FIMV，FVMV，FIMI等操作PXIe接口，可定制为网口，USB接口等测试解决方案SLT测试高速、高频测试幅相多功能芯片CP此案例主要针对高频 LNA_Noise factorfunction:PA_LNA_数控移相PA_LNA_移相精度PA_LNA_衰减精度；PA_幅度一致性 …模块化解决方案:采用PXI架构，内部集成多通道网络分析仪板卡，电源SMU 探针台带有全自动上片单元，可以方便实现一个晶舟共25片晶圆全自动上下片，高效便捷，碎片风险低。

最近的升级包括与 24 个母线样本的兼容性、新的 SMU 和 BC 电池测量。它是主要太阳能生产商和世界领先研究机构使用的重要工具。 iLS-W3用于生产质量评估和样品分类的在线高速检测重新设计并重新工程化的新硬件和软件，这是用于晶片和电池生产线的晶片检测系统（WIS）的终极质量检测单元。 这是唯一一款获得BT Imaging广泛专利组合和市场领先检测算法支持的原硅晶片在线PL成像单元。典型用例包括晶圆剔除、根据预测的电池效率进行晶圆质量分类、晶圆和电池研发以及生产线工艺改进。 iLS-M5在线和离线模块测量，用于跟踪退化和性能调节iLS-M5 是适合模块生产商和现场安装人员的下一代工具。 LIS-R系列 电池测试机台升级支持多达 24BB 和 BC 单元设计新的LIS-R系列电池阶段包括多达24个探针轨道，并作为可选的BC电池配置的一部分提供。