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TronSiqht 创视智能自主研发并量产了光谱共焦位移传感器、激光三角位移传感器、光谱干涉薄膜测厚传感器多款高精度系列产品,打破国外企业垄断高端工业传感器市场的局面，已服务于工业自动化、半导体、新能源、消费电子、市政工程、科研、 主要产品激光三角位移传感器光谱共焦位移传感器白光干涉薄膜测厚传感器激光三维轮廓仪解决方案学术科研精密制造电子行业汽车行业金属行业半导体行业新能源行业市政检测行业
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Dymek 岱美仪器主要产品晶圆键合设备、纳米压印设备、紫外光刻机、涂胶显影机、硅片清洗机、超薄晶圆处理设备、压力计、流量计、等离子电源、非接触式光学三坐标测量仪、薄膜厚度检测仪、电容式位移传感器、振动样品磁强计 (VSM )、粗糙度检测仪、电镜 (SEM)、透镜 (TEM)、原子力显微镜 (AFM)、防振台系统、三维原子探针材料分析仪 (Atom Probe)、激光干涉仪、平面／球面大口径动态激光干涉仪、氦质谱检漏仪、紫外线固化仪
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VLink 加华微捷FAU系列、适 合 PIC/CPOFAU系列等定制化产品；具备行业内齐全研发测试手段设备以及可靠性验证能力，包括高精密光纤阵列 corepitch测试仪、OGPV槽阵列测试仪、OCCR光纤受损探测器、光学薄膜 镀膜机、激光干涉仪、扫描电镜、红外热像仪、激光切割刀、快速TC箱。 针对应用于相干通信，PIC封装及硅光模块高耦合效率封装的光纤阵列；具备行业内齐全研发测试手段设备以及可靠性验证能力，包括高精密光纤阵列 core pitch测试仪、OGPV槽阵列测试仪、OCCR光纤受损探测器、光学薄膜镀膜机 、激光干涉仪、扫描电镜、红外热像仪、激光切割刀、快速 TC箱。
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PhovIR Technologies在微型纳米镜检查中的突破Micro-Opto-Electro-Mechanical-System (MOEMS) enabled technology我们重新设计了迈克尔森干涉仪（Michelson interferometer 技术优势：基于 MOEMS 的迈克尔森干涉仪("黄金标准"),< 5×5 mm2超宽带(1-2.6μm)单片 InGaAs 探测器，无需复杂的薄膜滤波器快速 (< 100 ms)自由空间光耦合
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Think Focus 思显光电主要产品光谱共焦位移传感器，线光谱3D测量传感器，光谱共焦位移传感器选型，共焦二维轮廓测量仪，共焦三维轮廓测量仪，量测专机，双头厚度测量仪，多层测厚仪，显微干涉测厚仪，干涉测厚传感器应用领域手机，电池， 电子元件，汽车，薄膜，油墨厚度，显示面板，磨损，粗糙度，镜片/玻璃，胶水厚度荣誉资质
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OCPRE 大成精密激光测厚仪成功上市主要产品锂电池极片测量设备Super+ X-Ray面密度测量仪；X/β射线面密度测量仪；CDM厚度面密度测量一体机；多架同步跟踪测量系统；五架同步跟踪测量系统；激光测厚仪；离线厚度尺寸测量一体机；3D轮廓测量仪；薄膜平整度测量仪 ；电芯封印边厚度测量仪；X射线在线厚度（克重）测量仪；红外测厚仪；光学干涉测厚仪真空干燥设备真空干燥隧道炉系列；真空干燥单体炉系列；全自动高温静置陈化炉XRay/超声 成像检测设备超声波显微镜；半自动离线成像仪 ；X-Ray四工位转盘机；X-Ray在线卷绕电池检测机；X-Ray在线叠片电池检测机；X-Ray在线圆柱电池检测机；X-Ray离线CT电池检测机薄膜测厚铜箔X射线在线厚度(面密度) 测量仪；离线厚度尺寸测量一体机 ；激光测厚仪；光学干涉测厚仪；红外测厚仪；薄膜平整度测量仪；3D轮廓测量仪；X射线在线厚度（克重）测量仪解决方案锂电池正/负极片、金属、薄膜面密度测量：X/β射线面密度测量仪纸张厚度测量： X/β射线面密度测量仪 ；红外测量仪金属薄膜厚度测量：X射线面密度测量仪涂布削薄区、软包封印边测量：离线厚度尺寸测量一体机电池真空干燥：圆柱电池真空干燥；方壳电池真空干燥；刀片电池真空干燥；大软包电池真空干燥小软包/小钢壳真空干燥
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SET 硕尔泰2024年，我们继续突破技术边界，推出了光谱干涉薄膜测厚传感器系列产品，进一步完善产品线。 ST-P系列产品能够根据客户需求定制激光类型，如蓝光激光广泛应用于医疗及美容仪器，红光激光则广泛用于半导体、3C电子、精密制造以及科研军工领域，适用于液膜厚度测量、粗糙度测量、箔材/极片/橡胶的厚度测量、薄膜及涂布胶料测厚 光谱干涉薄膜测厚传感器产品以其精准的测厚性能和广泛的应用场景，特别适用于工业领域中各种复杂环境的测量需求。硕尔泰不仅提供优质的传感器产品，还提供全方位的技术支持和定制化服务。
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HCTECH 无锡泓川科技满足动态测量需求；光谱共焦位移传感器：突破传统光学限制，应对高反光、透明材质等复杂表面测量挑战；同轴光位移传感器：集成化设计，适用于狭小空间精密定位；激光测振动传感器：实时捕捉设备振动频谱，赋能预测性维护；白光干涉测厚仪 ：纳米级精度，测量超薄透明薄膜涂层厚度；超声波传感器：抗干扰性强，适用于粉尘、油污等恶劣工况；3D线激光位移传感器：三维轮廓扫描专家，为表面缺陷检测、逆向工程提供高效工具。
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ZhenYue 振越科技依托于知名高校的技术支持，公司的技术积累日渐丰富，已经成功开发出激光位移传感器、光谱共焦位移传感器、白光干涉薄膜传感器以及一系列精密光学测量仪器。
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SITI 上海司逖什么是光谱共焦干涉仪？非接触式轮廓测量技术中的测量精度，通常受机械振动和微扫描台位置不准确的限制。为不再受此类环境干扰，开发了对振动不敏感的全新干涉测量法。 采用这种新型干涉仪系统，干涉仪显微镜的精度可达亚纳米级。光谱共焦干涉测量原理干涉测量法基于白光干涉图（SAWLI）的光谱分析。它包括分析在光谱仪上观察到的干扰信号，以便测量参比板和样品之间的气隙厚度。 此外，该传感器可用于测量太薄而不允许使用光谱共焦技术的透明薄膜。最小可测厚度为0.4μm。 光谱共焦位移传感器￭ 外形尺寸测量 ￭ 空气夹层测量￭ 厚度(透明物体)测量￭ 段差高度 (非透明物体)测量￭ 外形轮廓测量￭ 表面型貌测量￭ 表面粗糙度测量￭ 表面微小划痕测量￭ 三维测量￭ 平面度测量面白光干涉传感器白光干涉测量用于非接触式快速测量 目前，在3D测量领域，白光干涉仪是精度高的测量仪器之一。线激光位移传感器高精度高性价的线激光位移传感器操作简单易懂 出厂时已作标定，用户开箱即用。
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泓川科技白光干涉测厚仪在40μm的 PET薄膜厚度测量中的应用案例04-05 12:19
