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Effecttek 易泛特易泛特技术（深圳）有限公司成立于2016年，由多名资深行业专家及博士领衔，致力于为客户提供业界领先的高分辩率、非接触式3D测量系统和非标定制需求;Effecttek 3D测量系统基于白光和红光干涉扫描原理 ，以光波长作为测量基准，利用纳米级高精度扫描系统和高精度X/Y/Z移动平台配合自主开发的高精度解析算法，重构待测物品表面三维形貌，帮助用户解决精密测量难题，包括：微观尺寸测量、线宽膜厚测量、高度差测量、 平面度测量、共面度测量、粗糙度测量等，也可对透明半透明材质进行多层尺寸测量；产品广泛应用于微电子、半导体、5G、3D玻璃、新型医疗、精密工业制造等领域，提供从产品研发、设计到加工验收的高精度测量支持；
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FiberTecc 飞博泰克包括光纤通信中精准时延测试，干涉仪臂长差精准测量，光纤微裂纹识别，集成硅光芯片损耗和偏振特性测试，光矢量分析，时钟光模块时延测试，混频器时延测试，光波导耦合损耗和分布式损耗测试，光无源器件插回损、群延时 主要产品光纤通信光路诊断设备，光器件分析仪，光矢量分析仪，偏振控制与管理，光器件与OEM模块光纤传感分布式光纤传感系统，光纤光栅解调仪，三维形状传感系统，分布式声波传感系统，微波雷达监测系统传感器应变， 温度，压力，加速度/振动，位移 /倾角，光栅，分布式光纤解决方案光纤通信水听器臂差（光时延）测试，光学混频器时延测试，光纤微裂纹检测，高速光模块之光无源组件测试，光栅微结构测试和光谱分析，光波导损耗测试 ，光子芯片自动测试平台，General Photonics偏振相关解决方案光纤传感OFDR系统搭建及技术支持，光纤形状传感在医学领域的应用，隧道围岩相似材料应变场监测，基坑位移测量，光纤形状传感在航空航天和国防工业领域的应用 ，船体表面压力分布测量技术和方法实验
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Optocon / WeidmannOptocon AG 是 Weidmann Group 的成员，25 年来一直是光纤温度测量解决方案的领先开发商。 Optocon拥有完整系统设计、开发和制造方面的核心知识，是“现成”和定制温度测量解决方案的领先供应商。 主要产品光纤温度测量系统 光纤温度传感器 光纤配件 产品配置器 服务和校准解决方案 软件Optocon一直是光纤温度测量解决方案的供应商，凭借在系统设计、开发和制造方面的核心知识，Optocon 是“现成”和定制温度测量解决方案的领先供应商之一。 从850nm的光波长开始，GaAs变得光学半透明。由于带隙的位置与温度有关，因此它偏移约0.4nm/Kelvin。测量装置包含光源和用于光谱检测带隙的装置。这保证了快速、可重复和可重复的测量。
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Panwoo 浦丹光电公司自2008年成立以来，专心开发、生产应用于光纤电流互感器、光纤CATV发射机、量子通信QKD等系统应用的成套核心光学器件和模块产品，以光学匹配、模块集成为特点在国内形成技术优势，产品广泛应用于电流互感 、电力、光电CATV系统中。 主要产品铌酸锂器件（多功能集成光波导调制器、直波导相位调制器、强度调制器、双输出Y分支平衡桥调制器）光源器件（DFB窄线宽激光器、超辐射发光管SLD）光接收器件（光接收器PIN-FET）微光学器件（保偏光纤分束器 PMFS）模块产品（SLD宽带光源模块、ASE光源模块）系统设备（光功率计、驱动器、宽带光源、光探测器自动测试系统、高压电场测量系统）
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Phasics高分辨率波前传感领域的创新和专业知识Phasics 提供基于创新的高分辨率波前传感技术的全系列波前测量系统和定量相位成像解决方案。 Phasics 的核心能力在于使用四波横向剪切干涉测量进行波前测量和分析。对于每种应用，专家软件包都会提供完整且相关的分析，以充分利用高分辨率波前测量。 主要产品定量相位成像相机测量工作站波前传感器配件及软件主要应用激光检测与控制激光光束指征测量，自适应光学，激光系统对准，气体与等离子体密度检测光学系统计量透镜与镜头组检测，光学系统对准，表面面型分析，广角视场镜头检测 ，光滤片及偏振器件表征，特种波长光学元件表征，超表面及超透镜测量，外场及真空环境下波前计量定量相位成像细胞学应用，组织学应用微观材料检测三维表面分析及断层扫描，光波导结构与折射率分析，激光诱导损伤阈值监控 ，纳米结构与光热成像行业领域激光超高能激光，工业激光，量子计算光学制造光学元件及组装，镀膜光学系统显微成像生物科学，材料科学消费类电子产品增强现实-虚拟现实，智能手机天文，航空及国防天文观测，安防及国防工业
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TIANHENG 天恒科仪天恒科仪（苏州）光电技术有限公司 总部位于中国苏州，主营探针测试平台、探针源测系统、半导体分析综合系统、光电分析综合系统、定制综合测试平台及系统，以更高的精度加速客户获得测量书库的速度。 产品涵盖示波器、分析仪等多种测试测量产品。数十年不断精进的研发水平、制造工艺和集成开发能力，丰富的微直流、光电、射频、微波、光波测试经验，在测试、测量和监测领域，已具有独立成熟的软硬件开发、研制能力。 我公司已开发直流、光电、射频、微波、光波、特殊应用定制等全系列常温、高温、高低温、真空环境探针测试平台、半导体器件参数测试系统、光电藕合测试系统、射频、微波器件测试系统、功率器件高压、大电流测试系统等产品 、晶圆测试系统2023年 发布功率器件测量系统及产品设备主要产品探针台小型探针台、小型真空高低温探针台、平板探针台、通用探针台、高温探针台、密闭高低温探针台、真空高低温探针台、大功率探针台、射频/微波探针台 、超快速脉冲IV测试模块、测试软件集成系统晶圆测试系统、光电耦合测量系统、功率器件测量系统解决方案半导体参数测量天恒旗下产品，为客户提供从晶元到系统的专业半导体测试方案，并提供搭配其他测试设备。
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Tunable AS该公司基于微型机电系统（MEMS）技术，结合微纳米技术和红外光谱技术，设计和制造了紧凑的多气体分析仪。传感器背后的技术是基于红外光谱，它利用了气体对光的反应因波长而异的原理特性。 根据不同的光波长，不同的气体分子开始振荡。光学麦克风在激光的帮助下测量这些最小的振荡。然后软件会评估测量数据，以确定气体及其浓度。 基于微型机电系统（MEMS）技术，Tunable在最小的空间内重现了这一物理过程。 利用这些传感器，他们测量大型船舶发动机的排放，并分析船舶燃料气体。Tunable公司目前正在其他领域测试传感器，如分析工业废气和监测气体分配网络。
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ORBBEC 奥比中光工业级应用设备整机系统设计技术奥比中光针对工业领域对微小形变、高精度形貌以及弯管测量方面的依托，借助在数字图像相关、结构光三维测量方面的技术积累，从系统端进行定制化设计与开发，自主设计开发了三维光学扫描测量系统 、三维全场应变测量分析系统以及三维光学弯管测量系统等工业级应用整机系统。 光学设计整机光学系统技术奥比中光研发了可用于结构光、iToF、dToFLidar等产品中的整体专用光学系统，包含离轴共轴光学测量系统。 光波导技术奥比中光自主设计了包含耦入、传导、耦出多层架构的光波导，并在衍射效率、抗干扰等方向做了深入研究。 ，风电能源三维测量方案，汽车制造三维测量方案
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Well Optics 维尔克斯光电）显微镜载物台，手动显微镜平移台；德国BATOP可饱和吸收镜，SESAM，太赫兹聚焦镜，激光芯片，微芯激光器；英国PRIOR显微镜平台，显微镜载物台，显微镜电动平台，纳米电动平台，自动上片机，自动对焦系统 Zaber电控平移台，线性致动器，旋转台，真空平移台，内置编码器和驱动器的位移台;美国Micromanipulator探针台，探针台配件；白俄罗斯Solar Laser公司SHR波长计，SHR-IR激光波长计 ，低重频高能量固体激光器；以色列DUMA公司 Spoton系列激光位置测量仪，Beamon光斑分析仪，光束分析仪，激光准直仪, Autocollimator，内调焦自准直仪，Alignmeter激光位置角度测量仪 其它产品加拿大photon etc，高光谱成像仪，近红外深冷相机；美国Boston Micromachines微机电可变形反射镜，MEMS变形镜；法国Phaseview公司M2仪，光束质量分析仪，激光轮廓仪，激光波前测量仪 Laser Scanning多边扫描器，多边扫描镜，多边扫描仪；俄罗斯Photon Tech System，激光教学设备，激光显示卡，激光观察卡；瑞士Rainbow Photonics太赫兹时域光谱系统
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Imagine Optic 想像光学，自适应光学系统等。 主要产品光学检测高精度波前测量是实现精密光学系统高性能指标的关键环节。 波前传感器HASO相关产品已广泛应用于激光波前分析、光学元件装配与面形检验、复杂光学系统装调与像差评价、光学系统结构稳定性监测、光学系统聚焦能力或成像质量的预测。 自适应光学-光束控制可变形反射镜能够实时改变光束波前，是提高激光系统能量集中度、光学成像系统PSF的关键设备。 应用领域光学检测光束控制光学显微技术支持我们不仅为用户提供国外原厂生产的各类标准产品，而且我们非常愿意根据用户的具体要求，提供完整的系统解决方案。
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二手出售Agilent安捷伦8164A光纤设备2023-09-18
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Agilent 8164A 光功率计2023-09-15
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Agilent安捷伦8164A光功率计2023-09-13
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回收Agilent8164A光测量系统8163A2023-09-07
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美国进口二手Agilent安捷伦8164A光纤设备2023-08-22
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Agilent安捷伦8164B光波测量系统2023-08-14
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8164B/安捷伦Agilent 8164B光波测量系统2023-07-31
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8164B安捷伦光波测量系统2023-07-22
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出售回收Agilent安捷伦8164A光纤设备2023-07-22
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安捷伦Agilent8164A光测量系统2023-07-21
