飞芯电子“一种探测芯片的测试系统”专利公布
集微网消息,天眼查显示,宁波飞芯电子科技有限公司“一种探测芯片的测试系统”专利公布,申请公布日为5月26日,申请公布号为CN116165412A。
图片来源:天眼查
专利摘要显示,本申请提供一种探测芯片的测试系统,其特征在于,包括:第一光源,用于向所述探测芯片提供均匀光;探针板卡,设置在所述探测芯片上方;反射镜,设置在所述探针板卡与所述第一光源之间;第二光源,设置在所述反射镜下方,用于向所述探测芯片提供调制光。
据悉,通过在测试系统中采用均匀加平行的光学方案,可以在平行光管下的区域内,实现光线通过探针板卡通孔对sensor芯片提供均匀的光覆盖;其采用反射镜机构作为切换均匀光和调制光模块的物理开关,代替了光阑机构,结构更加简化,并且保证了均匀光源和调制光源的工作状态不会干扰。(校对/刘沁宇)
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