飞芯电子“一种探测芯片的测试系统”专利公布
科技奇谈
集微网消息，天眼查显示，宁波飞芯电子科技有限公司“一种探测芯片的测试系统”专利公布，申请公布日为5月26日，申请公布号为CN116165412A。
图片来源：天眼查
专利摘要显示，本申请提供一种探测芯片的测试系统，其特征在于，包括：第一光源，用于向所述探测芯片提供均匀光；探针板卡，设置在所述探测芯片上方；反射镜，设置在所述探针板卡与所述第一光源之间；第二光源，设置在所述反射镜下方，用于向所述探测芯片提供调制光。
据悉，通过在测试系统中采用均匀加平行的光学方案，可以在平行光管下的区域内，实现光线通过探针板卡通孔对sensor芯片提供均匀的光覆盖；其采用反射镜机构作为切换均匀光和调制光模块的物理开关，代替了光阑机构，结构更加简化，并且保证了均匀光源和调制光源的工作状态不会干扰。（校对/刘沁宇）
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