贝克休斯推出全新工业微/纳米双管CT扫描仪Phoenix V|tome|x M Omni
这是一款全能型工业CT解决方案，可用于实验室以及生产端的3D计量、研发和质量控制等任务，以实现全自动高精度的生产线的无损检测。
近日，贝克休斯（Baker Hughes）旗下Waygate Technologies宣布推出全新工业微/纳米双管CT扫描仪Phoenix V|tome|x M Omni。
这是一款全能型工业CT解决方案，可用于实验室以及生产端的3D计量、研发和质量控制等任务，以实现全自动高精度的生产线的无损检测，适用于电动汽车和电子行业的电池检测，以及航空航天质量控制的多种应用等。
基于Phoenix V|tome|x，Phoenix V|tome|x M Omni版本拥有全新步入式装载设计，带来更大样品检测空间与更高的检测效率以及更短的维护周期，有更广泛行业应用覆盖，可调节FDD提升扫描效率、优化扫描结果，全新射线管系统结构助力图像采集流程，全新操作台用于本地系统运行状态监控及故障排除，全新标准化接口支持全自动化工作流程。
此外，Phoenix V|tome|x M Omni具有设备紧凑，高检测精度的特点。检测高度≤70毫米(27.55英寸)样品时最大检测直径达500毫米(19.68英寸)；检测样品高度≤740毫米(29.13英寸)样品时最大直径≤120毫米(4.72英寸)；可检测样品重量高达75千克(165磅)。高检测精度可满足客户的精密检测需求；Phoenix V|tome|x M Omni以及之前的版本，集成Scatter|correct散射矫正技术、High-flux|target高通量靶和Dynamic 41数字平板探测器，以及X|approver软件进行自动缺陷识别(ADR)；设备配备全新的标准化接口，可以集成到机器人上下料或其它在线/半在线的检测。
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