单片非晶磁性测量系统典型磁参数的不确定度与重复性

天恒测控-传感器检测 20231120

  • 非晶材料
单片非晶磁性测量系统测量条件 ：T：( 23 ± 5 )℃，F：50 Hz / 60 Hz，测试开始之前，应进行30分钟以上的预热并对样品退磁。

典型磁参数的不确定度与重复性

典型的测试点最佳不确定度 ( k = 2 )最佳重复性
损耗PsP1.0 ④3.0%1.0%
P1.33.0%1.0%
P1.43.0%1.0%
P1.53.0%1.0%
磁感BmB25 ⑤1.0%0.3%
B501.0%0.3%
B801.0%0.3%

单片非晶磁性测量系统： https://www.tunkia.com/product_detail/49.html?pid3=1345

单片非晶磁性测量系统测量条件 ：

  1. T：( 23 ± 5 )℃，F：50 Hz / 60 Hz
  2. 测试开始之前，应进行30分钟以上的预热并对样品退磁。
  3. 测量次数：10次，试样放置于测定框内，在10次测量中，不应再移动。
  4. 数据分析：取10次测量的最大值或最小值减测量平均值除以测量平均值，以二者中的最大值代表重复性。
  5. 备注④：P1.0指磁通B为1.0 T时的比总损耗值，以此类推。
  6. 备注⑤：B25 指磁场H为25 A/m时的磁通密度值，以此类推。​编辑

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