高精度定制化!天恒科仪平板探针台:测试领域的“全能选手”
在半导体制造、光电子研究等高精尖领域,测试设备的性能直接决定研发效率与产品良率。近日,Horizon Technology推出HTMP系列平板探针台,凭借其1μm级精度调节、全参数客制化设计及多场景兼容能力,成为行业关注的焦点。
这款设备如何实现“精准与灵活”的平衡?我们一探究竟!
核心技术亮点:精度与效率的双重突破
微米级定位系统:
X-Y-Z三轴调节:采用线性无回差气浮技术,行程50mm×50mm×50mm,精度达1μm,可快速定位且无机械磨损。
旋转与倾角调节:水平方向360°粗调±5°微调,垂直摆动±20°,满足复杂角度测试需求。
Z轴升降:气动升降行程50mm,速度可调,结合微调25mm行程,兼顾效率与精细操作。
光学与成像升级:
180X-1000X光学倍率,分辨率最高1μm,搭配1920×1080P工业相机,实时捕捉微观细节,确保测试结果可视化与可追溯性。
全场景测量兼容:
支持低频、高频、大功率、光波测试:电流精度低至10fA(开尔文结构),频率覆盖DC-1100GHz,功率承载10kV/1500A,光波范围涵盖紫外至红外,满足从芯片到光器件的多样化需求。
天恒科仪-平板探针台
定制化服务:灵活适配企业需求
HTMP系列主打“按需定制”,用户可根据实际场景选择:
尺寸与形态:圆形/方形可选,外型支持U型设计,材质采用防腐抛光不锈钢,平整度±3μm。
功能模块:真空吸附或悬空夹持方案,探针座最多支持8个,兼容4.5英寸探针卡,适配不同产线布局。
平板探针台-详细参数
应用场景:从实验室到工业产线
半导体封装测试:1.4μm点测定位精度,确保晶圆级测试稳定性。
光通信器件研发:红外光波检测能力,助力光模块性能验证。
功率器件量产:1500A大电流承载,满足IGBT、SiC器件的高压测试需求。
Horizon Technology HTMP平板探针台以“精度可控、功能全能、灵活定制”为核心竞争力,为微电子领域提供了高效可靠的测试解决方案。
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天恒科仪
天恒科仪(苏州)光电技术有限公司总部位于中国苏州,是中国半导体精密分析技术及解决方案的研发商和生产商,以光电精密分析技术为核心的引领者,客户遍布多个国家和全国各地。通过持续的创新,天恒科仪致力成为中国半导体从科研到量产,提供专业测量解决方案和产品设备的供应商。
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