天恒科仪 | 密闭高低温探针台助力半导体与材料研究

天恒科仪-小盛 20250417

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密闭高低温探针台

HTM系列密闭高低温探针台(Model: HTM-600C/800C/1200C专为半导体器件、电子元件及材料的高精度电性能测试设计。

其核心优势在于宽温区控制、高密闭性及智能化操作,可满足实验室与工业领域对复杂环境模拟的严苛需求。

天恒科仪-密闭高低温探针台


核心技术参数与设计亮点

热处理器与散热系统设计:

HTM系列采用多级半导体制冷技术,结合高速循环液冷系统,确保在-20℃至+150℃范围内实现快速、均匀的温控。

热处理器内置高精度热电偶阵列,实时反馈温度分布,配合PID算法动态调节功率输出,避免局部过热或过冷。

散热器采用90kg级铜铝复合材质,表面积扩大30%,搭配双风扇强制对流设计,可在满负荷运行时保持系统稳定性,延长设备寿命。


密闭腔体与防干扰能力:

25hO级气密屏障通过多层金属密封圈+真空吸附技术实现,漏率低于1×10⁻⁹ Pa·m³/s,可兼容氮气、氩气等惰性气体环境,满足敏感材料(如钙钛矿、二维材料)的防氧化测试需求。

腔体内部集成15kV防静电涂层,有效消除测试过程中的电荷积累,确保高频信号测量精度。


典型应用场景

核心应用领域

半导体器件测试:

晶圆级参数分析(如IV/CV曲线、击穿电压等)

高低温循环下的器件可靠性验证。


新材料研发:

宽温区(-20℃~+150℃)内材料电导率、热稳定性测试

极端环境下功能材料性能评估。


功率电子元件评估:

IGBT、MOSFET等功率器件的动态特性测试

散热性能与温升曲线分析。


科研与教育:

高校实验室用于微电子、物理等学科教学实验

科研机构开展新型传感器、光电器件研究


密闭高低温探针台详细参数:

天恒科仪-密闭高低温探针台详细参数


智能化操作与高效流程

一键式测试:通过PC端软件预设温度曲线、探针移动路径及数据采集频率,全程自动化执行

实时监控大屏:支持多参数同屏显示(温度、湿度、电压、电流等),异常状态自动报警


联系我们

技术咨询:0512-68788006

官网:http://www.horizonthk.com/

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