天恒科仪 | 大面积双温区变温台，实现-30℃至80℃宽域控温
天恒科仪-小盛
为满足科研与工业领域对温度控制的高精度、高效率需求
我司创新推出「大面积双温区变温台」，以帕尔贴效应为核心控温技术，结合双温区独立调控与大尺寸样品台设计
为材料研究、生物实验、电子测试等领域提供更卓越的温控解决方案！
核心技术亮点
核心技术：帕尔贴效应控温原理
采用帕尔贴效应（热电制冷技术）作为核心控温方案，通过半导体热电模块实现温度调控，具体技术特点如下：
双向控温：通过电流方向切换，同一模块可执行加热或制冷功能，无需独立制冷/加热单元，系统集成度高。
精密控制：采用PID算法PT100铂电阻温度传感器（精度等级：A级误差≤±0.1℃），构建闭环控制系统。
控温稳定性：±0.1℃（空载条件），温度分辨率：0.1℃。
低干扰设计：无机械运动部件，运行噪音＜30 dB（1米距离），适用于光学实验等精密场景。
二、控温性能及详细参数
在空载条件下，产品控温范围达-30℃至80℃，满足高低温极端实验需求：
控温下限-30℃：
技术实现：多层半导体热电堆叠+强制风冷散热，确保低温稳定性；
典型应用：低温材料力学测试、生物样本冷冻存储、半导体器件低温特性分析。
控温上限80℃：
技术保障：铜质样品台（导热系数≥400 W/m·K）配合主动散热系统，避免热累积；
典型应用：电子元件高温可靠性测试、聚合物材料热变形研究。
动态性能：支持≤10℃/min的温变速率，适用于温度循环测试（如-30℃↔80℃）。
三、典型应用场景
生物医学：
双温区细胞培养（如温度梯度下的基因表达研究）；
酶活性温度依赖性实验。
材料科学：
半导体器件(如SiC、GaN）-30℃~80℃下的电学性能测试；
锂电池电解液低温离子传导率分析。
电子工业：
芯片封装热应力测试（依据JEDEC标准）；
高低温循环测试（-30℃↔80℃，500次循环）
四、产品优势及定制服务
精准控温：基于帕尔贴效应与PID算法，稳定性达±0.1℃（空载）
宽温域覆盖：-30℃至80℃满足极端实验需求；
双区独立控制：支持非对称温度设定（如左区-20℃/右区60℃）
兼容性：反射式光路设计适配显微镜、光谱仪等光学设备。
支持以下定制需求：
扩展温域（需评估可行性）
样品台材质（如陶瓷、不锈钢）
通讯接口
天恒科仪以精准控温，助力科研工业科技创新！
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