天恒科仪 | 大功率探针台
天恒科仪-小盛
大功率探针台专为大电流、高电压场景下的半导体器件测试而设计，适用于IGBT、SiC/GaN功率模块、激光二极管等器件的极限性能评估。
其高承载能力与抗干扰设计，确保测试数据精准可靠。
核心技术参数与设计亮点
高功率承载能力
电流与电压范围：支持最高1000A电流与数千伏级电压测试，满足大功率器件的极限工况验证需求。
低接触电阻设计：采用异形螺母与镀金探针，确保信号传输稳定性，降低测试误差。
精密散热与结构设计
高效散热系统：集成液冷通道与风冷模块，保障设备在持续高功率运行下的温控稳定性。
抗弯抗扭结构：关键部件采用高强度合金材质，搭配三孔径绝缘布局（VDT技术），提升设备机械强度与电磁兼容性。
智能化测试平台
多轴联动调节：X-Y-Z轴行程达20mm，支持手动/自动模式切换，适配复杂测试路径。
可编程控制：内置定时器（0~10分钟）与高速转盘（兼容Φ6/8/12英寸晶圆），实现自动化测试流程。
高兼容性与扩展性
模块化设计：支持探针卡、光学观测系统（分辨率达**3cm/2.5m/1.5m**）等配件灵活扩展，适配多样化测试需求。
典型应用场景
新能源与电动汽车：
SiC/GaN功率模块的导通损耗与开关特性分析。
工业电源：
IGBT、MOSFET的长期可靠性测试与失效分析。
光通信：
大功率激光二极管的输出稳定性验证。
大功率探针台详细参数
专为大功率而生：
从硬件设计到软件控制，全链路优化高电流、高电压测试的稳定性与精度。
快速响应需求：
提供定制化探针卡、散热方案及数据接口，缩短客户研发周期。
高效服务体系：
24小时技术支援，确保设备高效运行。
型号对比与选型指南：
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