天恒科仪 | THK高频探针选型指南

天恒科仪-小盛 20250722

面向科研应用的精准测试解决方案

——40GHz/67GHz射频探针核心技术参数解析

THK-选型说明指南


一、高频探针核心型号与特性

1.40GHz系列:

40GHz系列

2.67GHz系列

67GHz系列

THK-F40-GSG-150

THK-F67-GSSG-500-AJ

二、材料材质详解

材料工艺:

  • 探针体:航空铝合金材质
  • 悬臂针:铍铜/钨合金

精度控制:

  • 接地/信号对准误差:±3μm
  • 平面度误差:±3μm
  • 接触点宽度:<30μm(100-250μm间距)

温控范围:

  • -55℃~+125℃(宽温域稳定性)

三、针尖配置与间距选择

针尖配置:

针尖配置

间距分级:

  • 100-250μm:25μm步进(高密度IC测试)
  • 300-1250μm:50μm步进(常规射频器件)

选型指南:

Probe型号说明

Probe型号说明

Probe型号说明

Probe型号说明

Probe型号说明

Probe型号说明

应用场景


科研选型建议:

  • 高频IC验证(>40GHz):
  • 优选THK-F40-GSG-150-DF(超低损耗)
  • 配合2.52mm连接器降低反射


差分系统测试:

  • 选择GSSG四针结构(如THK-F40-GSSG-150-NS)
  • 注意100Ω阻抗匹配


极端环境实验:

  • 选用宽温域型号(-55°C~125°C)
  • 验证针尖平整度(<5.5μm)

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