天恒科仪 | THK高频探针选型指南
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——40GHz/67GHz射频探针核心技术参数解析
THK-选型说明指南
一、高频探针核心型号与特性
1.40GHz系列：
40GHz系列
2.67GHz系列
67GHz系列
THK-F40-GSG-150
THK-F67-GSSG-500-AJ
二、材料材质详解
材料工艺：
- 探针体：航空铝合金材质
- 悬臂针：铍铜/钨合金
精度控制：
- 接地/信号对准误差：±3μm
- 平面度误差：±3μm
- 接触点宽度：<30μm（100-250μm间距）
温控范围：
- -55℃~＋125℃（宽温域稳定性）
三、针尖配置与间距选择
针尖配置：
针尖配置
间距分级：
- 100-250μm：25μm步进（高密度IC测试）
- 300-1250μm：50μm步进（常规射频器件）
选型指南：
Probe型号说明
Probe型号说明
Probe型号说明
Probe型号说明
Probe型号说明
Probe型号说明
应用场景
科研选型建议：
- 高频IC验证（>40GHz）：
- 优选THK-F40-GSG-150-DF（超低损耗）
- 配合2.52mm连接器降低反射
差分系统测试：
- 选择GSSG四针结构（如THK-F40-GSSG-150-NS）
- 注意100Ω阻抗匹配
极端环境实验：
- 选用宽温域型号（-55°C~125°C）
- 验证针尖平整度（<5.5μm）
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