表面化学分析国家标准宣贯会即将召开：XPS、SIMS、AFM等关键技术深度解析
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表面化学分析国家标准宣贯会即将召开：XPS、SIMS、AFM等关键技术深度解析
2026年6月9日至10日，由国家大型科学仪器中心—北京电子能谱中心、全国表面化学分析标准化技术委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会及仪器信息网联合主办的“第十三届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会”即将举行。
其中，6月10日全天将聚焦“表面化学分析国家标准宣贯会”专题，集中解读多项最新国家标准。
会议亮点抢先看
- 多项新国标集中宣贯：涵盖XPS、SIMS、AFM、辉光放电光谱等主流表面分析技术。
- 聚焦实操难点：围绕碳污染校正、X射线损伤识别、深度剖析优化、强度标线性等实验室常见问题展开。
- 技术与仪器融合：结合近常压表界面技术及国产XPS仪器的最新进展。
会议时间与形式
会议时间为2026年6月9日至10日，采用线上直播形式，通过仪器信息网3i讲堂平台进行。
参会方式
本次会议免费开放，欢迎各界专业人士报名参加。报名链接如下：
https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/bmfx2026.html
“表面分析技术前沿与应用”专场报告嘉宾介绍
报告题目：GB/T 19500-2025 表面化学分析 X射线光电子能谱分析方法通则
报告人：吴正龙 北京师范大学 教授级高工
吴正龙长期从事X射线光电子能谱、激光拉曼光谱、荧光光谱分析及相关教学工作，研究方向涵盖薄膜功能材料、稀土发光材料、半导体材料等领域。现任全国表面化学分析标准化技术委员会副主任委员，主持及参与多项电子能谱分析方法国家标准的制定。
报告题目：GB/T 47076-2026 表面化学分析 X射线光电子能谱 导电碳基材料XPS结合能的测量
报告人：徐鹏 国家纳米科学中心 实验室副主任/高级工程师
徐鹏现任国家纳米科学中心技术发展部副主任，参与多项XPS相关国际及国家标准的起草工作，包括IEC/TS 62607-6-21及GB/T 43598-2023等。
报告题目：费勉科技_X射线光电子能谱仪介绍
报告人：赵嘉峰 费勉科技（上海）股份有限公司 董事长
赵嘉峰博士拥有丰富的表面分析技术产业化经验，曾参与国产化工业在线XPS设备的研发，并推动其在半导体领域的应用。
报告题目：表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
报告人：李展平 清华大学分析中心 高级工程师
李展平博士长期从事表面分析技术研究，参与多项国际及国家标准的制定，曾获ISO卓越奖及中国分析测试协会科学技术奖。
报告题目：近常压技术在表界面研究中的应用
报告人：王珍 贝克斯帝尔科技（北京）有限公司 销售经理
王珍博士毕业于中科院大连化物所，专注于表面催化研究，熟悉德国SPECS品牌设备的应用与市场推广。
报告题目：GB/T 45772-2025 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱分析中X射线致材料非预期损伤的识别、评估和校正程序
报告人：姚文清 清华大学/国家电子能谱中心 研究员/副主任
姚文清研究员长期从事光催化材料表界面化学分析及表面分析技术标准化工作，参与多项国际及国家标准的制定。
报告题目：GB/T 45773-2025 《表面化学分析 X射线光电子能谱全扫描谱的准实时信息 含碳化合物表面污染的识别和校正规则》解读
报告人：刘芬 中国科学院化学研究所 副研究员
刘芬博士在电子能谱及表面分析领域有三十余年研究经验，主持和参与多项国家标准的制定。
报告题目：GB/T 45768-2025 表面化学分析 二次离子质谱 单离子计数飞行时间质谱分析器的强度标线性
报告人：谢方艳 中山大学分析测试中心 正高级实验师
谢方艳博士长期从事表面与界面分析研究，主持多项国家自然科学基金项目，参与多项国家标准的制定。
报告题目：GB/T 20175-2025 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法
报告人：陈建 中山大学 研究员
陈建研究员在纳米与薄膜材料的电子能谱分析方面有深入研究，曾获国家自然科学奖及多项行业奖项。
报告题目：GBT 45770-2025_ISO 13095_2014 表面化学分析 原子力显微术 用于纳米结构测量的原子力显微镜探针柄轮廓原位表征程序
报告人：孙洁林 上海交通大学 研究员
孙洁林博士专注于扫描探针显微镜方法学及标准化研究，主持多项国家级科研项目，参与多项标准制定。
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