密尔沃基M&M电镜年会归来，整理了35个新品清单

这届M&M整机新品不多，但探测器和工作流软件的数量超出了预期。35个新品新方案清单，我已经帮你梳理好了。（文末有新品/方案清单）

在刚刚结束的M&M电镜年会上，来自全球的显微学与微分析领域的专家齐聚密尔沃基，共同见证了多项前沿技术的发布与展示。作为该领域最具影响力的年度盛会之一，第62届M&M大会吸引了众多厂商与科研人员的关注。

与往年相比，本届大会在整机新品发布方面相对保守，但探测器与工作流软件的更新数量却显著增加。为了便于读者快速了解本届大会的技术亮点，我们对展出内容进行了分类整理，分为“新品发布”与“解决方案”两大类，并附上详细清单。

布鲁克在本届大会上带来了两项重要发布，成为全场焦点。其中，eWARP™ TKD透射菊池衍射探测器基于其获奖的WARP混合像素传感器技术，据称是目前公开参数中响应速度最快的TKD探测器之一。

另一项发布是XFlash® FlatQUAD™ 2L环形能谱仪探测器，该设备支持能谱与背散射电子信号的并行采集，代表了能谱检测技术的进一步演进。

日立高新则推出了HT7800II 120 kV透射电镜，首次在M&M大会亮相。该设备主打一键自动化校准与10秒全视野图像捕获功能，旨在将透射电镜的操作从高度依赖专家经验的流程，转变为更易上手的常规操作。

DECTRIS的QUADRO探测器在展会期间举行了专门的发布活动，但其具体技术参数尚未公开，成为本届大会最具神秘色彩的新品之一。

Gatan则将M&M大会作为下一代能量过滤器的发布平台，集中展示了多项新品与软件版本更新。从其发布节奏来看，样品制备与软件自动化正成为该领域的重要发展方向。

国仪量子旗下的海外品牌CIQTEK并未推出新型号设备，而是重点展示了其高速SEM技术。其核心理念是“成像速度与分辨率可以兼得”，打破了传统成像系统中二者难以兼顾的限制。

赛默飞在本届大会上未发布整机新品，但通过技术报告披露了多项重大升级。其在展位上的展示表明，该公司正将AI技术逐步整合进现有产品线，以提升整体性能与用户体验。

牛津仪器则展示了其在电子背散射衍射（EBSD）领域的多项软件升级，包括图案匹配技术的优化、MapSweeper应变分析的改进，以及EBSD-RISE在扫描电镜中的集成。

Tescan在展会上展示了GIB温和离子束、TENSOR低温样品杆、Orage 2柱体以及飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）等技术。这些技术的整合表明，Tescan正在构建完整的双束电镜工作流解决方案。

综合本届大会的发布内容，可以总结出两个主要趋势：

此外，显微学行业的发展重心正在从“整机参数竞赛”转向“系统集成能力”的比拼。未来的竞争焦点将不再是单一设备的性能，而是如何将探测器、样品制备、自动化软件等模块整合为高效、流畅的工作流。

这一转变不仅对用户而言是利好，意味着更高效、更可靠的数据获取方式，同时也对厂商提出了更高的系统整合与创新能力要求。可以预见，未来的市场格局将由那些能够提供完整解决方案的企业主导。

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