中科观微（北京）科技有限公司，基于中国科学院自动化研究所30多年的集成电路设计分析科研成果转化，具有千万门级数字集成电路分析成功经验，能提供业界最小工艺制程5nm、10层以上金属布线的IC电路提取分析、制造工艺分析、产品竞争力分析、专利侵权分析及IC失效分析等。为集成电路设计公司、生产制造企业、科研院所及高校等单位提供优质、高效、有保障的集成电路分析服务。

发展历程

1986年  集成电路分析系统ICRES1.0中科院科技进步一等奖

1992年  集成电路分析系统ICRES2.0中科院科技进步一等奖

1993年  实用化ICRES2.0国家科技进步一等奖

2001-2005年  亚微米、深亚微米集成申路自动化；分析技术研究；科技部重大科技项目

2009-2014年  纳米级集成电路设计物理分析技术；国家科技重大专项

2018-2021年  纳米级芯片智能分析系统研发及产业化；北京怀桑国家科学城专项

服务内容

产品竞争力分析：通过对市场上成熟产品的研究、芯片解剖等技术手段，帮助用户最大程度了解竞品的成本优势和设计优势，协助解决关键性的技术问题，以提升和改进自身工艺水平。

电路提取分析：基于芯片背景图像，通过自主研发的集成电路EDA分析软件，绘制各层引线和通孔等版图信息，提供通用格式的网表、版图及原理图数据。

芯片失效分析：对失效或有缺陷的产品进行前期非破坏性（如X-Ray、SAT、I-V、Themos等）和后期破坏性（如Decap、Bonding关系；AFM、EMMI、OBIRCH电性能分析；FIB、SEM、TEM材料结构分析及电路修改；SIMS材料组分测定等）的分析检测，准确定位芯片故障点，并提供故障修正建议、可靠性测试评价及修正服务。

专利侵权分析：全方位分析疑似侵权产品，结合专利文献中的技术要点，提供电路布图、工艺制程及封装等专利侵权取证服务，为产品的知识产权保护提供支持与依据。

服务领域

航空航天和军工

为航空航天、军工等领域要求较为严格且有特殊品质要求的专用集成电路提供IC技术原理、结构机制、设计思想、制造方法与工艺、材料特性等的分析服务，从而达到从设计原理到制造，由结构到材料及后端可靠性测试分析验证等，全面系统地掌握产品的设计和生产技术全方位的设计服务。

工业自动化及电力电子

为应用于电力电子、工业自动化、光伏、新能源汽车、医疗、通讯等工业类应用领域的数字、模拟、数模混合等各类集成电路芯片，提供电路优化设计分析、竞争力分析及工艺分析等服务。

民用消费类电子产品

为应用于消费类电子产品，如智能可穿戴设备、AI人工智能、智能家居家电、消费电源、音视频类等领域的数字、模拟、数模混合类集成电路芯片，提供高效、便捷、高性价比的电路优化设计分析、竞争力分析等服务，可加速缩短产品设计研发周期，提升产品可靠度及品质，保护产品知识产权，增强产品市场竞争力。

分析产品类型

数字类IC

处理器类：CPU、GPU、DSP等；

存储器类：SRAM、DRAM、PROM、Flash等；

单片机类：SOC、MCU等；

可编程逻辑类: PLD、PAL、GAL、FPGA等。

模拟类IC

电源电路类：电源控制类、BMS控制类、DC/DC、AC/DC等。

数模混合IC

模-数转换器(ADC、DAC)；

基带IC；

接口电路IC；

各类定制类ASIC。

特种电路类IC

射频功率电路RF