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Effecttek 易泛特

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易泛特技术(深圳)有限公司成立于2016年,由多名资深行业专家及博士领衔,致力于为客户提供业界领先的高分辩率、非接触式3D测量系统和非标定制需求;

Effecttek 3D测量系统基于白光和红光干涉扫描原理,以光波长作为测量基准,利用纳米级高精度扫描系统和高精度X/Y/Z移动平台配合自主开发的高精度解析算法,重构待测物品表面三维形貌,帮助用户解决精密测量难题,包括:微观尺寸测量、线宽膜厚测量、高度差测量、平面度测量、共面度测量、粗糙度测量等,也可对透明半透明材质进行多层尺寸测量;

产品广泛应用于微电子、半导体、5G、3D玻璃、新型医疗、精密工业制造等领域,提供从产品研发、设计到加工验收的高精度测量支持;

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