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光学特性

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  • Sunny Infrared 舜宇红外光学 H9009A 工商业可燃气体探测器

  • 司南传感 滤光片 光敏材料

  • GPI (Gurley Precision Instruments) 8135S 旋转编码器

  • Excelitas TPiD 1T 0226 L5.5 温度传感器

  • 武汉普赛斯仪表 S100B 仪表

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  • AQM (Applied Quantum Materials)

    AQM 可以调整纳米材料的尺寸、形状、表面化学以及光学和电气性能。这些特性使其能够在各种应用中使用,包括示踪粒子、电池、可打印的3D产品、显示器、传感器、光电和用于生物成像的荧光片 。 纳米粒子和量子点因其尺寸相关光学特性、电子、机械、化学和磁性的特性而引起人们相当大的兴趣。AQM 合成协议已被证明是可扩展的,并可以提供有形数量的材料,控制尺寸分布和成分。 AQM 可以调整纳米材料的尺寸、形状、表面化学以及光学和电气性能。这些特性使它们能够在各种应用中使用,包括示踪粒子、电池、可打印电子、显示器、传感器、光电池和用于生物成像的荧光片。
  • GPI (Gurley Precision Instruments)

    我们的专业领域包括用于精确测量位置或速度的光学编码器;在玻璃和类似基材上生成和复制或精确图案;光学镀膜、组件和部件;用于医用管材、纸张、薄膜、纺织品和其他片材的物理性能测试仪器;和明渠流量计来测量水流速度 光学和光学制图我们的 光学和光学制图产品线包括产生和复制精密光学图案和部件,如成片层、分辨率目标、编码盘和刻度尺、棱镜、镜子、分束器、滤波器、透镜和一步楔形。 该产品用于火控系统、光学编码器、制导系统和其他类型的光学、光电和激光系统,可在可见光、红外线、或者是光谱的紫外线部分。 纸张测试仪器真正的电影,床单,和 纸张测试仪器 几十年来一直是测量诸如刚度、弹性、柔软性、孔隙度、透气性和平滑性等物理特性的行业标准。 为了满足在广泛参数范围内测量这些特性的需要,我们提供了三种刚度测试器模型,七个密度计,和一个渗透计。
  • ICD 英科迪微电子

    高端半导体显示屏幕控制芯片研发商,公司致力于显示系统所需完整芯片组解决方案,同时推出了世界上第一个HDR(高动态范围)显示系统光学及显示质量仿真模拟软件,HDR显示系统光学及显示模拟仿真软件开发算法团队由斯坦福大学博士后带队 ,综合光学、色彩、显示原理图像质量各个方面,在HDR显示方面深人研究,不断创新。 ,在与业内主流光学软件的交叉比对中,亮度均匀性模拟结果优于主流软件,更符合实际光学效果,且仿真效率极大提高。 3.允许用户自定义光学膜层及导入实测光学特性数据文件,提供光型函数设计方案的效果评估和验证的量化仿真结果。 4.允许用户引入实际LED光谱函数、QD膜激发光谱特性数据,同时导入LCD透光率、滤光片光谱特性等实际参数,最终形成显示系统色域空间坐标,并提供给自动白平衡计算。
  • CE Optics

    匈牙利 CE Optics 成立于2007年,是斯格德大学光学与量子电学系,Tewati研究小组的衍生公司。CE Optics专注于提供超快激光诊断,色散测量与控制,频率梳和载波包络相位产品。 产品基于纯线性光学光谱解析干涉技术,对超短脉冲的色散特性及载波包络相位测量及控制,是CPA技术的理想辅助工具。 CE Optics公司坐落于匈牙利光学与激光物理高等教育与研究应用中心塞格德,拥有塞格德大学的数个研究机构。此外,塞格德还主持了即将完工的阿秒激光设施ELI-ALPS
  • TIANHENG 天恒科仪

    半导体材料测试平台、半导体工艺测试平台、芯片设计测试平台、芯片验证测试平台半导体材料测试平台包括:针对晶元级半导体材料或半导体器件,搭配半导体参数分析仪,用于测试分离器件、材料的三大特性:1、直流特性, 如IV曲线、IT曲线、VT曲线、RT曲线等;2、电容电压特性CV曲线(CVU);3、脉冲特性测试(PMU),支持超高速脉冲测试。 支持以上特性的多通道同步测试。针对高功率半导体材料或半导体器件,搭配高功率晶体管参数曲线图示仪,或称晶体管曲线追踪仪,支持高压、高流等条件下直流特性IV曲线、电容电压特性CV曲线测试。 2.显微观察倍率:体视显微镜:综合放大倍率14X~200X(配合CCD相机+显示器),光学小分辨率约5微米);金相显微镜:综合放大倍率20X~2000X (配合CCD相机+显示器),光学小分辨率约0.5 显微观察倍率:体视显微镜:综合放大倍率14X~200X(配合CCD相机+显示器),光学小分辨率约5微米;金相显微镜:综合放大倍率20X~2000X (配合CCD相机+显示器),光学小分辨率约0.5微米。
  • Optotune

    Optotune 开发和制造行业塑造有源光学元件,使全球客户能够进行创新。成立于 2008 年,我们以调焦镜头的核心技术起步,其灵感来自人眼的工作原理。 由于我们对光学和机械的深刻理解以及对技术的热情,在解决传统光学无法解决的挑战时,Optotune 是您的理想合作伙伴。Optotune 提供广泛的内部专业知识。 材料研究: 材料表征和测试、材料加工光学设计 :使用 ZEMAX®光线追踪软件进行光学模拟、杂散光分析、容差分析机械设计多物理场: FEM 模拟 (COMSOL) 完整的系统设计 CAD (Solidworks )测试: 光学特性、环境测试生产 :半自动化生产1000 级洁净室,在瑞士和斯洛伐克的生产设施
  • Gigahertz-Optik

    德国 Gigahertz-Optik 是一家中型公司,专注于技术光学领域以及激光和光电子领域。自 1986 年以来,我们一直在研发生产仪器,这些仪器非常适合测量和评估光辐射以及光学材料的特性。
  • FBGS Technologies

    FBGS Technologies GmbH 是一家位于德国/比利时的光学测试测量公司。 为此,FBGS公司独家研发出两款独特的全自动生产工艺,成功制作出具备卓越光学特性和机械特性的传感元件,在保证高质量的同时实现了成本节约。 光频域反射计(OFDR)光频域反射计(OFDR)是一种特殊技术,用于分析光纤和光学元件中的光学光路和反射特性。时分复用使用光纤布拉格光栅(FBG)技术测量物理量变化的原理之一是时分复用。 我们的FBG元件( DTG®, FSG®, AGF®)均具备高强度特性,并拥有卓越的光学性能。我们的解调器以一流的质量和高性价比著称。
  • TeraNova

    我们的团队由一个关于太赫兹、微波和光学科学技术的专家组组成。我们位于布兰波特地区中心的埃因霍温技术大学,可以利用各种最先进的设备来发展太赫兹技术和测量高科技材料并对其进行定性。 我们的愿景 我们的目标是利用光学辐射和太赫兹辐射,开发用于散射测量和半导体特性描述的计量仪器并使之商业化。这些仪器提供了关于为光子学和量子应用而制作的晶圆质量的重要信息。 高分辨率太赫兹近场显微镜 我们独特的仪器能够研究光激发半导体的瞬态光电导性和载波寿命,提供大量的数据,是理想的半导体特性和质量检查。
  • Metacam 清智元视

    我们来自不同领域,但有着共同的技术信念:通过“AI+光学”的技术双引擎,逆向设计与优化视觉模组基本形态,实现针对性的画质调优与光学设计,引领下一代视觉传感器的研发与制造。 通过在光学系统中引⼊编码器件,实现超⾼ 速、⾼分辨、⾼精度的像素级强度调制。精巧的光学设计在保障光通量、成像质量的同时 实现⾼集成度、⾼稳定性的相机结构。 元相机通过将传统相机中的全局像素统⼀控制特性 升级为逐像素编码特性,为多种应⽤场景提供了⼴阔的想象空间,在⾼速成像、⾼动态范 围成像中具有明显的竞争优势。 由清智元视独⽴⾃主研发的元相机涵盖光学系统、电⼦芯⽚、⾼级视觉算法等多个领域的 全⽅位联合创新。
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