基于中国科学院自动化研究所30多年的集成电路设计分析科研成果转化，具有千万门级数字集成电路分析成功经验，能提供业界最小工艺制程5nm、10层以上金属布线的IC电路提取分析、制造工艺分析、产品竞争力分析、专利侵权分析及 专利侵权分析：全方位分析疑似侵权产品，结合专利文献中的技术要点，提供电路布图、工艺制程及封装等专利侵权取证服务，为产品的知识产权保护提供支持与依据。