SC2010分立器件测试系统与国内其它测试系统对比表
SC2010分立器件测试系统与国内其它测试系统对比表
SC2010分立器件测试系统与国内其它测试系统对比表
| 硬件： | SC2010测试系统 | 其它测试系统 | 说 明 |
| 系统硬件结构 | 总线结构（共8槽），扩展性强维修方便。 | 非总线结构，扩展性差。 | 如：需要连接机械手/分选机可在底板上直接插入对应连接板 |
| 测试器件范围 | 整流二极管和快速恢复二极管、稳压二极管、瞬态电压抑制二极管、开关二极管、双极性晶体管及阵列达林顿矩阵、闸流管（可控硅）、场效应管、整流桥、IGBT、单结晶体管、光敏二、三极管、光电耦合器、继电器、光电开关、压敏电阻、过压保护器等。 | 二极管及整流桥、三极管、可控硅、场效应管、 达林顿管、 IGBT、光电耦合器（或其中几类器件） | SC2010测试品种全，而且SC2010测试可控硅时可以测试单象限、双象限、三象限和四象限，而别的测试系统只能单象限可控硅;另外对于多个器件封装在1个器件里的产品如桥堆、达林顿矩阵等，SC2010可实现多单元器件依次扫描，而别的测试系统需要分别单独测试 |
| 继电器 | 价格昂贵的进口水银继电器，吸和速度快、无抖动、不打火开关次数达10亿次 | 价格低廉普通继电器速度慢且易打火 | 测试系统继电器用量很大，若继电器打火很容易造成被测器件的损坏 |
| 程控高压源 | ±2000V | ±1500V | |
| 程控高流源 | ±100A/200A | ±50A | |
| 程控电流/电压源 | ±40V/±10A | ±20V/±0.1A | 场效应管的跨导gfs基本在15V以上，若VIS只到10V许多产品不能测 |
| 测流最小分辨率 | 10pA | 10nA | 场效应管的漏流测试很重要（几乎所有都在nA级），但2103B只能测到µA级，而SC2010能到pA级 |
| 最高施加/测量精度 | ±0.1% | ±0.25% | |
| 数据采集位 | 16位ADC，100K/S采样速率 | 12位ADC | SC2010精度高 |
| 测试速度 | 快 | 慢 | |
| 计量，校准 | 提供内部校准/外部校准两种方案，符合国家计量标准和行业标准。 | ||
| 安全性 | 由低压控制高电压输出，只在测试一瞬间被测器件带高压，双测试按键保证操作工的安全 | 机器上电即有高电压输出，安全性较低 | |
| 体 积 | 适中，散热好 | 体积小散热较差 | |
| 用户群 | 半导体元器件生产厂家、测试中心、电子来料检验、实验室都在使用 | 用户较少 |
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芯测哥
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