SC2010分立器件测试系统/晶体管图示仪在元器件来料检验(IQC)中的应用

芯测哥 20250422

SC2010分立器件测试系统/晶体管图示仪是元器件来料检验(IQC)常用设备，功能强大，测试种类多参数全还能扫描曲线

SC2010分立器件测试系统/晶体管图示仪在元器件来料检验(IQC)中发挥着关键作用，主要体现在以下方面：

一、核心应用场景

  1. ‌参数全面检测‌可对二极管、三极管、IGBT等器件的静态/动态特性（如电流放大倍数、开关特性、V-I曲线）进行精确测量，确保符合设计规格‌。
  2. ‌质量分级筛选‌通过自动分档功能（如SC2010系统支持16Bin分类），将器件按性能参数分级存放，适配不同产品需求‌。
  3. ‌早期缺陷识别‌检测漏电流、结电容等关键参数（分辨率达1.5pA），有效筛选出潜在失效元件‌。

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二、技术优势

  • ‌高精度测试‌：采用四线开尔文连接和16位ADC采集，电压测量精度达±0.1%，高压测试范围覆盖2000V‌。
  • ‌高效处理‌：通过Handler接口连接分选机，测试速度可达每小时1万件，大幅提升检验效率‌。
  • ‌数据追溯‌：测试结果自动生成EXCEL报告，支持质量追溯与统计分析‌。

三、行业实践案例

  • ‌汽车电子领域‌：用于IGBT模块的来料检验，验证其在高温/高电压下的稳定性，满足电动车严苛要求‌。
  • ‌消费电子领域‌：企业对充电器核心元件进行批量抽检，降低组装后的故障率‌。

四、标准符合性

系统设计符合《GJB128半导体分立器件试验方法》等标准，适用于军工、医疗等高可靠性领域‌。

通过上述应用，分立器件测试系统显著降低了来料不良率，从源头保障了电子产品可靠性‌。

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