共探实验室XRD新方向：埃度纳米与DECTRIS联手推出POLLUX高性能探测方案

5 月 19日，DECTRIS发布新一代POLLUX探测器，并与埃度纳米深化合作。双方将协同研发高端XRD系统，推动高精度探测技术与先进分析装备融合发展。

5月19日，全球知名的X射线探测器供应商DECTRIS携其新一代光子计数探测器POLLUX，访问位于上海的埃度纳米科技（IDONANO）思贤路园区，并举办了一场新品发布暨技术交流会。

DECTRIS的资深产品经理Dr. Marcus Mueller与应用专家Dr. Hans Gildenast在现场介绍了POLLUX的技术细节，并与埃度纳米的技术团队就该探测器在高端科学仪器中的集成应用展开了深入探讨。双方还确认了后续围绕POLLUX探测器展开更深层次技术合作的计划。

此次交流标志着两家公司合作迈入新阶段，从传统的探测器集成逐步向下一代高性能X射线衍射（XRD）系统的联合研发与实际应用拓展。

聚焦高性能探测技术，共探实验室XRD新方向

在发布会上，Dr. Marcus Mueller系统介绍了POLLUX的产品定位与核心架构，重点突出了其在高能量分辨率、高动态范围和高计数率等方面的性能优势，并通过实测数据展示了其在复杂测试环境下对荧光背景的抑制能力、微量成分的检测精度以及整体数据质量的显著提升。

Dr. Hans Gildenast则从实际应用场景出发，详细分析了POLLUX在粉末衍射、残余应力分析、掠入射测量以及小角/广角散射（SAXS/WAXS）等多个领域的优势。通过现场演示测试数据与典型案例，为双方技术团队提供了直观的性能验证。

POLLUX：面向下一代实验室XRD的高性能探测方案

作为混合光子计数（HPC）探测器领域的领先厂商，DECTRIS多年来专注于X射线探测技术的前沿研发，其产品在无噪声、高动态响应和高速读出等方面广受业界认可。

此次推出的POLLUX探测器专为实验室XRD系统设计，在延续DECTRIS大尺寸二维探测器高动态响应特性的同时，实现了更优异的能量分辨率性能，并在计数率、探测面积与数据质量之间取得良好平衡。

该探测器支持双能量阈值设定、连续读出和高帧频采集，能够有效抑制荧光与背景噪声，为粉末衍射、残余应力分析、掠入射测量、以及SAXS/WAXS等应用提供更高质量的数据支撑。

深化合作，共同推进高端XRD系统能力建设

埃度纳米作为国内高端X射线分析仪器的先行者，已在多款自主研发系统中成功集成DECTRIS的一维和二维探测器，并在数据质量、测量效率和系统稳定性方面积累了丰富的应用经验。

目前，埃度纳米的多款产品，如N3 Phinix系列，已在国内多个科研机构和企业用户中得到广泛应用，用户反馈良好。

在此次交流中，埃度纳米的研发团队与DECTRIS技术团队围绕POLLUX的硬件集成、软件接口以及实际应用场景的开发进行了深入讨论，并完成了探测器与埃度纳米系统兼容性的现场验证。

企业观点：推动高性能XRD系统持续升级

埃度纳米联合创始人兼CTO张卫星与首席科学家鲍朝辉博士表示：

“DECTRIS在X射线探测技术方面拥有深厚的技术积淀，双方多年来的稳定合作也验证了其产品的卓越性能与可靠性。POLLUX在能量分辨率、动态范围以及系统适配性上的表现令人印象深刻，与我们致力于高端化、精密化和场景化的产品发展战略高度契合。此次合作将进一步增强我们在高端XRD系统领域的综合竞争力。”

DECTRIS客户支持代表Dr. Lu Mifang表示：

“埃度纳米在仪器集成和市场推广方面展现出的实力令人赞赏。此前双方已建立了良好的合作基础。POLLUX致力于为实验室及工业检测提供更灵活高效的探测解决方案，我们期待与埃度纳米继续携手，共同推动先进探测技术在材料科学、半导体检测及纳米技术等领域的应用拓展。”

面向未来，推进新品协同研发与联合应用

埃度纳米表示，此次技术交流不仅完成了POLLUX探测器在中国市场的正式发布，也标志着双方合作进入“同步研发、联合落地”的新阶段。

未来，埃度纳米与DECTRIS将在高性能XRD系统领域持续深化技术协作与产品开发，推动高精度探测技术与先进X射线分析设备的深度融合，为科研与工业用户提供更高效、更优质的结构分析解决方案。

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