新品发布 | SICK OD7000系列高精度光谱共焦测距传感器正式面世
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新品发布 | SICK OD7000系列高精度光谱共焦测距传感器正式面世
SICK近日推出全新OD7000系列高精度光谱共焦测距传感器，为精密测量领域带来创新解决方案。
OD7000系列采用先进的光谱共焦技术，专为高精度一维位移测量设计。该传感器具备小巧的外形、出色的集成性以及高性价比，适用于多种复杂测量场景。
此次发布的两款新型号分别为：
- OD7000-10111031 光学位移传感器（6079493）——配备编码器接口
- OD7000-10111032 光学位移传感器（6079494）——未配备编码器接口
一、产品特性
OD7000系列具备以下核心性能指标：
- 测量范围：14.45 ... 15.55 mm（1.1 mm）
- 轴向分辨率：45 nm
- 线性度：±400 nm
- 测量频率：最高可达10 kHz
- 通信接口：RS-232 / RS-422 和以太网
- 支持增量式编码器输入
该系列通过搭配不同控制器（可选模拟量或编码器输入）与四款传感器头，提供四种测量配置，覆盖600μm（25nm）、1.1mm（45nm）、4mm（180nm）和10mm（400nm）的测量范围与分辨率。
此次新增的1.1mm测量范围填补了原有0.6mm与4mm之间的空白，增强了产品在不同应用场景下的适应性，尤其适用于以往因测量范围不足或分辨率与线性度不匹配而难以满足的精密测量需求。
二、性能参数
三、典型应用示例
OD7000系列广泛适用于对测量精度要求极高的工业场景，包括但不限于：
- 制药行业中的精密定位与质量控制
- 消费电子产品的微米级尺寸检测
- 半导体与光伏制造中的高精度位移测量
四、配套组件
为满足多样化安装与集成需求，OD7000系列提供多种配件选项，包括连接器、安装支架及信号调理模块。
五、产品优势总结
OD7000系列主要面向制药、消费品、电子、半导体及光伏等行业的复杂测量需求。在传统激光位移传感器难以胜任的场景中，该系列产品凭借其高精度、高稳定性和优异的环境适应性，提供了可靠且高效的测量解决方案。
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