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GBITEST 深圳易捷深圳市易捷测试技术有限公司，（品牌GBITEST），是一家致力于提供半导体晶圆在片测试系统的高科技服务公司。 主要业务包括各式探针台系统，自主研发半导体测试软件，探针台升级改造服务等，可满足实验室研发和晶圆厂量产的各式需求。 十几年来，公司一直专注于半导体测试领域，积累了丰富的实操经验，赢得了行业口碑，专业的系统集成方案广泛应用于：WAT/CP测试，I-V／C-V测试，RF/mmW测试，高压/大电流测试，MEMS、高低温测试 、光电器件测试，硅光测试、晶圆级失效分析（包括ESD测试）、封装检测等领域。 公司现已与多家国内外知名半导体测试设备厂商长期合作，携手美国Keysight、美国Maury、日本TSK、台湾MPI、台湾光火焱科技、日本HANWA等优秀厂商，为用户提供半导体测试系统解决方案。
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麦思电子公司除拥有配套完整的微电子工艺研究环境外，还拥有先进水平的硅MEMS研究环境和CMOS器件与集成电路设计能力，拥有先进的传感器I-V、C-V参数测试，温度特性测试，超高精度光学自动测试设备，数字化倾角传感器测试转台
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无锡迈科公司整合行业力量，配套MEMS工艺制造环境，组建了一支核心的国内外的集成电路，MEMS设计团队，配套高精度角度自动测试设备，数字化倾角传感器测试转台，光纤陀螺仪测试系统，微惯导模组调试系统，具有对产品参数 I-V、C-V测试，温度特性的温漂测试。
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Grand View 中科观微芯片失效分析：对失效或有缺陷的产品进行前期非破坏性（如X-Ray、SAT、I-V、Themos等）和后期破坏性（如Decap、Bonding关系；AFM、EMMI、OBIRCH电性能分析；FIB、SEM 、TEM材料结构分析及电路修改；SIMS材料组分测定等）的分析检测，准确定位芯片故障点，并提供故障修正建议、可靠性测试评价及修正服务。 服务领域航空航天和军工为航空航天、军工等领域要求较为严格且有特殊品质要求的专用集成电路提供IC技术原理、结构机制、设计思想、制造方法与工艺、材料特性等的分析服务，从而达到从设计原理到制造，由结构到材料及后端可靠性测试分析验证等
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